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热机械分析仪 TMA7000系列
面议光化学反应量热仪选配项 紫外线照射装置 PDC-7/PDC-7X
面议热分析软件 EMA
面议高性能能量色散型X射线荧光元素分析仪 EA1200VX
面议纳米尺度3D光学干涉测量系统 VS1800
面议超高分辨肖特基场发射扫描电镜 SU7000
面议基于设计数据的计量系统
面议高解析度FEB测量装置CS4800(CD-SEM)
面议高解析度FEB测量装置CG6300(HITACHI CD-SEM)
面议高分辨率FEB测长仪器 CG5000 (HITACHI CD-SEM)
面议半导体蚀刻系统9000系列
面议高性能FIB-SEM系统 Ethos NX5000
面议随着RoHS指令的改订,2019年7月开始,在涂覆电线,绝缘胶带及包装薄膜等产品中被广泛使用的4种邻苯二甲酸酯类物质将被列入为限制对象。
本装置是可以在生产现场,简单迅速地筛选检查邻苯二甲酸酯类物质的机。其操作性优异,处理效率,可以在8小时内连续测量50个样品。
气化后的化合物,可直接进行质量分析,从而实现了高速测量。
利用自动进样器(标准搭载),只需点击测量按钮,多可以连续自动测量50个样品。测量进行中也可以准备下一个需要测量的样品以及其他业务,因此,提高了业务效率,还减轻操作人员的工作量。
切下适量的样品放在样品杯内,将其置于样品托盘上。之后进行简单地软件操作,利用自动进样器开始进行自动测量。在软件操作屏幕上显示样品图像,可以随时确认连续测量的进展情况和判定结果(PASS/FAIL)。
载体气体使用的是氮气。依靠气体发生器(现地采购品),仅配置电源就可以方便使用。免除氦气,液氮等的使用和管理,持续降低了运行成本。
限制物质的替代增塑剂中含有的对苯二甲酸二辛酯(DOTP)具有和限制物质相似的结构。针对具有这些相似结构的物质,通过实施以离子强度相关为基础的补正来提高识别精度,实现准确的测定。
通过实现SIM和SCAN的同时测定,使根据质谱仪的周期性进行测定成为可能,提高针对混有润滑剂等聚合物的样品的筛选精度。
構成 | 装置基本构成 | HM1000A(装置本体・附件) |
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测定式样 | 测定对象 | 邻苯二甲酸酯类(DBP/DIBP,BBP,DEHP) Br系阻燃剂(DBDE) |
样品量 | 0.2 mg ± 0.04 mg | |
样品形态 | 固体、粉末样品 | |
样品形态r | 大50个(自动进样部) | |
质谱 检测部分 | 离子源 | APCI |
质量分析部 | 四重极MS Filter | |
测定模式 | 扫描模式, SIM模式(大20频段) | |
离子性极 | 正离子 | |
外形尺寸及重量 | 本体 | 510 mm (W) ×615 mm (D) ×615 mm (H), 85 kg |
蠕动泵 | 160 mm (W) ×490 mm (D) ×265 mm (H), 29 kg |