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所在地
热机械分析仪 TMA7000系列
面议光化学反应量热仪选配项 紫外线照射装置 PDC-7/PDC-7X
面议热电离质谱仪(邻苯二甲酸酯检查用) HM1000A
面议热分析软件 EMA
面议纳米尺度3D光学干涉测量系统 VS1800
面议超高分辨肖特基场发射扫描电镜 SU7000
面议基于设计数据的计量系统
面议高解析度FEB测量装置CS4800(CD-SEM)
面议高解析度FEB测量装置CG6300(HITACHI CD-SEM)
面议高分辨率FEB测长仪器 CG5000 (HITACHI CD-SEM)
面议半导体蚀刻系统9000系列
面议高性能FIB-SEM系统 Ethos NX5000
面议一台覆盖了从RoHS/ELV测量筛选到高度分析的X射线荧光分析仪。
实现了比以往机型提高20倍以上的高灵敏度。配合株式会社日立*科学独自开发的高计数率检测器[Vortex]和[精度管理型测量软件]后,较以往机型可平均缩短1/10的测量时间。
安装了不含液氮的15万CPS高帧率检测器(Vortex),拥有了远远超过以往使用液氮检测器时的灵敏度及分辨率。
通过一枚复合的通用滤波器能够一次性将RoHS管理的5种元素测量。相比测量时间短的EA1200VX,能够进一步缩短测量时间。
由于可以在真空环境下测量,所以测量范围扩大到Na~U。(轻元素测量选配)。也可测量氯的高灵敏度。
采用1 mmΦX射线光束,进行印刷基板等任何微小部分的修正、定量。
仅仅通过多可进行12个样品连续测量的自动进样器,能实现不同测定条件下样品的连续测量。当然,大430×320 mm的大型样品也可直接进行测量。
测量元素 | 原子序数11(Na)~92(U) *真空选购项 |
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样品形状 | 液体、粉体、固体 |
X射线源 | 小型空冷室X射线管(Rh or W靶) 管电压:50 kV 管电流:10~1000 µA |
X射线照射方向 | 斜下方照射型 |
检测器 | Vortex SDD检测器(无需液氮) |
分析区域 | 1、3、8 mmΦ(3 mmΦ选购项)(自动切换) |
样品观察 | 彩色CCD摄像头 |
滤波器 | 5种模式自动切换 |
大样品尺寸 | 430(W)×320(D)×195(H)mm 239(W)×280(D)×66(H)mm (真空测量时) |
仪器尺寸 | 580(W)×650(D)×513(H)mm |
重量 | 95 kg |
电源/额定功率 | AC100 V~240 V(50/60 Hz)/210 VA |
样品交换机 | 可安装 *选购项 |
介绍荧光X线分析的分析实例。
介绍应对环境指令的装置的特征。(Global site)
介绍荧光X线分析的原理和应用实例。
在专栏总结了荧光X线分析技术。
介绍环境规章和日立高科技产品・服务。
介绍以科技领域者为目标的日立*科学集团的象征标志。