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纳米尺度3D光学干涉测量系统 VS1800
面议超高分辨肖特基场发射扫描电镜 SU7000
面议基于设计数据的计量系统
面议高解析度FEB测量装置CS4800(CD-SEM)
面议高解析度FEB测量装置CG6300(HITACHI CD-SEM)
面议高分辨率FEB测长仪器 CG5000 (HITACHI CD-SEM)
面议半导体蚀刻系统9000系列
面议高性能FIB-SEM系统 Ethos NX5000
面议日立样品检查自动化系统 LABOSPECT TS
面议* 日立LABOSPECT 008 AS
面议* 日立LABOSPECT 006
面议日立样品前处理系统 Pre-Analytical Modular System
面议差示扫描热量仪的选配项。该选配件是以检测UV固化为代表的光化学反应为目的,可实现对样品固化过程的实时检测,还可对辐照波长、强度的依赖性进行分析。
光固化DSC,通过利用高灵敏度的差示扫描热量仪,不管是对超薄的胶卷、还是微量的样品都可以在低噪音环境下得到高灵敏度的数据。紫外可见光源通过光纤在样品和参比物的正上方照射,实现*强度的照射。照射强度可以通过光源光量和连续可变的ND滤光片进行调节。通过更换滤光片可以使得波长的选择变得简单易行。多功能快门控制器,能够以0.1 秒为单位设置照射时间。快门的开关,既可以用CPU控制,实现手动调节或自动控制。
照射强度依赖性
各辐射波长下的不同反应
型号 | PDC-7 | PDC-7X |
---|---|---|
温度范围 | PDC:使用时:室温 ~150 °C DSC:使用时:-50 °C ~400 °C | PDC:使用时:室温 ~150 °C DSC:使用时:依据DSC7000X规格 |
波长范围 | 240~550 nm | |
波长选择 | 254,313,365,405,436 nm | |
大照射强度 | 500 mW/cm2 | |
照射强度调节范围 | 0~100 % |
介绍各种规格的热分析・粘弹性测量仪。
汇集了关于热分析・粘弹性测量仪的参考文献・报告。
领略想象的世界!样品实时观察选配项 Real View TA。
为您详细介绍高灵敏度差示扫描热量计DSC7000X的特点。搭载了新型*的传感器和炉体结构,实现了别的高灵敏度和重现性。
从热分析到流变及光化学反应,提供各种解决方案。
介绍各种规格的热分析・粘弹性测量仪。
收集了与热分析・粘弹性测量仪相关的。
汇集了关于热分析・粘弹性测量仪的参考文献・报告。
介绍以科技领域者为目标的日立*科学集团的象征标志。