microme|x 微焦点X光检测系统

       ——亚微米级高分辨率自动化X光检测系统，用于焊点及电子元器件的二维检测和计算机断层扫描成像（CT）。

 microme/x 主要性能参数 系统放大倍数和分辨率
几何放大倍数                    可达2,160倍
总放大倍数                      不使用软件放大时可达23,320倍
细节分辨能力                    < 1微米

       上海英华检测科技有限公司位于“上海市张江高科技园区”，是专门从事无损检测设备开发、销售与服务的专业公司，致力于为国内各行业客户提供各种无损检测设备及其应用解决方案。我们的宗旨是：努力将世界上的无损检测技术和设备介绍给国内的客户，使国内的无损检测技术与世界同步。

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