Nano Indenter G200

安捷伦 Nano Instruments推出的新型Nano Indenter G200，是在微、纳米尺度上研究材料性质的zui为*的测试平台。其*的移动系统可加快样品处理量，而不影响测试准确性。产品符合ISO 14577-1、2和3标准，确保了测试的准确性与重现性。

Nano Indenter G200系统不仅是进行纳
米压痕实验的旗舰产品，也可以用于其它类型的测试，例如力学探针、划痕试验及纳米力学显微镜。拥有一台来自安捷伦的Nano Indenter G200系统，您可以进行大量不同的测试，体验的控制水平。
 

设计优势

拥有一套安捷伦纳米力学测试系统所具有的优势是从核心技术的设计开始。所有纳米压痕实验均依赖zui基本的载荷与位移数据，对样品上所加载荷要求进行zui精密的控制。 安捷伦的每一款Nano Indenter系统均由基于电磁激励的载荷传感器驱动，以消除任何可能产生力的漂移的因素。当压头被压入样品中时，位移数值利用一个电容传感器进行测量。采用二片弹簧*设计的压痕组元在水平向具有较强的刚性，而在垂直向上保持较好的柔性。
装载样品台

我们*的系统设计确保了测试结果的可靠性，产品优势除该核心技术之外，也同时赋予了用户灵活性与可控制性的特点。在同行业的TestWorks 4软件不仅可以自动进行测试，也可以使用户利用网络远程遥控进行实验控制。有了TestWorks，您可以根据实验条件随时改变数据记录速率，从而获取您所需要的资料。该特色使用户可以进行数据记录速率的优化，并管理测试文件的大小。

特色

• 可移动距离达200毫米
• 基于线性光学编码器的移动系统
• 基于LED的框架照明系统
• 带有样品高度原位调节器的样品台
• 带有位置反馈的显微镜
• 带USB接口的NanoSwift控制器
• 符合ISO 14577标准，包括温度测量
• 载荷传感器之间自动转换
• 安装在机架上的电控柜

优点

• 可使用整个样品台
• 优良的定位精度
• 容易观察样品位置与样品工作区域
• 简化了样品高度调节程序，加快测试处理
• 现代化的电子仪器界面延长系统寿命和系统的优化升级
• 符合ISO 14577标准，确保数据完整性
• 可使用各个载荷传感器进行实验，并可随时进行切换
• *化的横向占地，节约实验室空间