PI-85-I-85型纳米压痕仪（SEM——扫描电子显微镜）_美国hysitron公司-美国仪器集团手机版

PI-85I-85型纳米压痕仪（SEM——扫描电子显微镜）

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产品简介

PI-85纳米压痕仪可以集成在扫描电子显微镜（SEM）里的一个深度控制纳米力学检测仪系统。通过这个系统能够同时进行量化纳米力学性能检测和SEM形貌观察。

PI-85是可以集成在扫描电子显微镜（SEM）里的一个深度控制纳米力学检测仪系统。通过这个系统能够同时进行量化纳米力学性能检测和SEM形貌观察。耦合这两种技术可使研究人员非常精确地定位探头，并且可使研究人员使用SEM图像记录测试材料的整个变形过程。

PI-85是可以集成在扫描电子显微镜（SEM）里的一个深度控制纳米力学检测仪系统。通过这个系统能够同时进行量化纳米力学性能检测和SEM形貌观察。耦合这两种技术可使研究人员非常精确地定位探头，并且可使研究人员使用SEM图像记录测试材料的整个变形过程。达到“可远观亦可亵玩”目的。