涂层测厚仪探头

涂层测厚仪探头

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2024-11-12 17:17:03
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产品简介

涂层测厚仪探头F1探头F1探头是涂层测厚仪磁性法测量的通用标准探头,测量范围0-1250um,基本覆盖大部分涂层厚度范围,也是TT260涂层测厚仪的标配探头

详细介绍

涂层测厚仪探头

F1探头
F1探头是涂层测厚仪磁性法测量的通用标准探头,测量范围0-1250um,基本覆盖大部分涂层厚度范围,也是TT260涂层测厚仪的标配探头。

测头型号 F1
工作原理 磁感应
测量范围(um) 0-1250
低限分辨力(um) 0.1
示值误差 一点校准(um) ±[3%H+1]
两点校准(um) ±[(1~3)%H+1]
测量条件 较小曲率半径(mm) 凸1.5
基体较小面积的直径(mm) ф7
较小临界厚度(mm) 0.5
探头尺寸(mm) ф12X47

N1探头
N1探头是涡流法涂层测厚仪测量的通用标准探头,测量范围0-1250um,基本覆盖大部分涂层厚度范围,也是TT260覆层测厚仪的标配探头。

测头型号 N1
工作原理 电涡流
测量范围(um) 0-1250(铜上镀铬0-40um)
低限分辨力(um) 0.1
示值误差 一点校准(um) ±[3%H+1.5]
两点校准(um) ±[(1~3)%H+1.5]
测量条件 较小曲率半径(mm) 3
基体较小面积的直径(mm) ф5
较小临界厚度(mm) 0.3
探头尺寸(mm) ф15X73

F1/90探头
TT260覆层测厚仪选配F1/90探头,主要用于管材内壁的涂层厚度测量。它细长的身形可以轻松的深入其它探头无法到达的细管中。夹层和细缝中的涂层厚度测量也是它的拿手好戏。

测头型号 F1/90
工作原理 磁感应
测量范围(um) 0-1250
低限分辨力(um) 0.1
示值误差 一点校准(um) ±[3%H+1]
两点校准(um) ±[(1~3)%H+1]
测量条件 较小曲率半径(mm) 平直
基体较小面积的直径(mm) ф7
较小临界厚度(mm) 0.5
探头尺寸(mm) 7.5X11X200

F10探头
TT260涂镀层测厚仪选配F10探头,测量范围由标配的0-1250um扩展至0-10000um,主要用于大厚度的涂层测量。
选配F10探头还应增配2000um、4000um、8000um的标准校准片,用于校准仪器。

测头型号 F10
工作原理 磁感应
测量范围(um) 0-10000
低限分辨力(um) 10
示值误差 一点校准(um) ±[3%H+10]
两点校准(um) ±[(1~3)%H+10]
测量条件 较小曲率半径(mm) 10
基体较小面积的直径(mm) ф40
较小临界厚度(mm) 2
探头尺寸(mm) ф27X47

F400探头
TT260涂镀层测厚仪选配F400探头,主要用于较薄厚度的涂层测量,可获得更*的测量结果和更高的重复性,
另外在管材基体直径较小或者被测区域接触面积较小时,F400探头也是较佳的选择。

测头型号 F400
工作原理 磁感应
测量范围(um) 0-400
低限分辨力(um) 0.1
示值误差 一点校准(um) ±[3%H+1]
两点校准(um) ±[(1~3)%H+0.7]
测量条件 较小曲率半径(mm) 凸 1
基体较小面积的直径(mm) ф3
较小临界厚度(mm) 0.2
探头尺寸(mm) ф12X55

CN02探头
TT260漆膜测厚仪选配CN02探头,主要用于测量线路板上的铜箔厚度,检测范围在10-200um之间。

测头型号 CN02
工作原理 电涡流
测量范围(um) 10-200
低限分辨力(um) 1
示值误差 一点校准(um) ±[3%H+1]
两点校准(um) -
测量条件 较小曲率半径(mm) 平直
基体较小面积的直径(mm) ф7
较小临界厚度(mm) 广阔制
探头尺寸(mm) ф16X67

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