XAN 系列

特性：

• 操作简单且性价比高。

• 自下而上进行测量，从而快速、简便地定位样品

• 广泛适用：为各个行业的典型需求量身定制了多种型号

• 以非破坏性方式进行镀层厚度测量与元素分析

• 带有高性能 X 射线管和高灵敏度的硅漂移探测器 (SDD)的机型，可对极薄镀层及微量成分进行*测量

应用：

镀层厚度测量

• 厚度仅为几纳米的贵金属镀层

• 时尚首饰：对代镍镀层等新工艺多镀层系统进行分析

• 抗磨损镀层，如：对化学镍镀层的厚度及磷含量进行测量

• 测试纳米级基础金属化层（凸点下金属化层，UBM） 

材料分析

• 测定黄金首饰等贵金属、手表和硬币的成分与纯度

• 经验丰富实验室、检测机构以及科研院校中常规材料分析

• 依据 RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他准则，检测电子元件、包装以及消费品中不合要求的物质（例如重金属）

• 功能性镀层的成分，如测定化学镍中的磷含量