IPS探针台为KeyFactor公司研发的高性能探针台系统，可满足低噪声/干扰的测试需求。使用IPS探针台系统以及合适的配件，用户可轻松松进行漏电于小于5fA，寄生电容小于10fF的测试测量应用。

      微弱漏电测试的主要配件为FemtoProbe或CPA-10同轴探针。该产品设计有同轴屏蔽层，可限度的包裹测试信号，减少漏电和周围电场的干扰。除此之外，我们还提供高性能的屏蔽箱，可保护测试系统在微弱漏电测试时不受静电声及交流电场的干扰。

<5fA漏电流，<10fF寄生电容

      如果您项目启动时仅需满足基础的I-V、C-V测试要求，IPS探针台也将是您良好的项。模块化的结构设计，让IPS探针台系统或轻松进行升级。用户仅需选择相应的升级模块，并进行简单的安装即可。设备无须退回原厂进行修改，用户不用因为升级而停止现有的实验。

      常用的基础I-V/C-V配置，通常包含了IPS-AS-Stereo探针台、S10系列探针夹具以及DTP100/DCP100定位器等配置。

基础的I-V/C-V配置

      IPS探针台为多应用平台，不仅仅可实现I-V/C-V测试。选择不同的配件，用户也可将系统设置为满足微测测试应用的探针台系统。

      基础的微波测试系统包含了1套IPS-AS-Stereo探针台（包含两个校准样品台），2套DCP100定位器，2套RFH100微波测试探针夹具，2套微波测试探针及组件（探针为定制产品）等等。

      由于微波测试探针价格较贵，为了更好地保护和使用探针，我们为该系统研发和高刚性的机械结构。同时，DCP100等定位器，使用了振动隔离式操作设计，有效地减少操作振动、提升了探针与样品的对准精度和效率。

射频/微波测试配置

      为了保障测试安装，IPS探针台高功率配置配套带有Interlock的EMIShiled屏蔽箱或安全光幕。这些配置可保障用户的使用安全，避免发生触电等人身伤害。我们还研发设计了防电弧结构，消除高压测试电弧。

      IPS-HP的基础配置，可应用于高达3kV高压和40A大电流的测试应用当中。若您需要5kV等更高压的应用，我们也可为您配置相应的测试系统 。

高功率测试配置

      KeyFactor公司研发了多款加热样品台系统，可适用于IPS探针台系统。的配置为RT至200℃的加热样品台，温度稳定性为0.1℃。我们也提供高至300℃或800℃的定制型加热系统。

      我们的加热样品台系统，通常由三部分组成：可加热的样品台、TemPro温控系统以及水冷循环系统（可选）。TemPro温控控器配套了专用的温控软件，您可以通过电脑对样品台的温度进行监视和控制。通过TemPro软件，您也可实现功率可变的组合测试。

      我们的温控系统为直流24V输出，可保障用户的使用安全，防止因设备故障产生触电等人身伤害。同时，直流电器的使用，可有效地消除样品台因使用交流电器而产生的干扰。

可选加热样品台

定制化服务，满足光电器件的表征测试需求

      除了标准的产品，我们也为用户提供定制化的服务。KeyFactor可为用户提供专业的结构设计，定制产品结构以适用于用户的激光器、光纤或电磁场等配件，以满足光电器件、纳米机器人等的测试测量要求。

      若需要让探针台系统获得超低漏电的测试环境，最关键的一步是须要让探针台与量测的仪表“合为一体”。即探针台不会因其主要为金属件构造的特点，接收过多的静电场和交流电场的干扰。这意味着我们在结构设计上，需要对压差、屏蔽以及接地上都需要有完善的解决方案。以上任意一点出现问题，探针台都将接收到高于目标值的干扰。有鉴于此，用户自行搭建的系统，通常常都很难达到微弱漏电的测试要求。

      KeyFactor研发的三同轴样品台，为用户省去复杂的配置工作，用户仅须将测试电缆连接到样品台即可进行超低漏电的测试。

三同轴样品台配置

产品功能介绍