常规的SimplePS包含基础I-V/C-V测量配置、高精度I-V/C-V配置，最短交期为1周。该配置包含了1套SimplePS探针台，2套DTP100定位器以、S10系列探针夹具以及测试探针。

      使用这套高可靠性的配置，用户可轻松应对30微米待测点尺寸的探针测试。SimplePS探针台系列，根据不同的需求，可配置为漏电流小于10nA、10pA以及100fA的系列。我们提供贴心的配置服务，为用户配置相应精度等级的测试系列，节约用户设备预算。

入门级配置，高性价比探针台系统

     SimplePS探针台为多应用平台，不仅仅可实现I-V/C-V测试。选择不同的配件，用户也可将系统设置为满足微测测试应用的探针台系统。

     基础的微波测试系统包含了1套SimplePS探针台，2套DCP100定位器，2套RFH100微波测试探针夹具，2套微波测试探针及组件（探针为定制产品）等等。

     由于微波测试探针价格较贵，为了更好地保护和使用探针，我们为该系统研发和高刚性的机械结构。同时，DCP100等定位器，使用了振动隔离式操作设计，有效地减少操作振动、提升了探针与样品的对准精度和效率。

射频/微波测试配置

      标准的SimplePS探针台系统配置了4英寸的样品台。用户也可根据实际要求，选择6英寸、8英寸的样品台。

      标准的SimplePS探针台尺寸为30*25cm。同时，我们也提供定制化设计服务，可为用户提供更大的底座和定位器平台空间以放置更多数量的定位器。

多款可选的样品台、可定制平台尺寸

可选加热样品台

      KeyFactor公司研发了多款加热样品台系统，可适用于SimplePS探针台系统。的配置为RT至200℃的加热样品台，温度稳定性为0.1℃。我们也提供高至300℃或800℃的定制型加热系统。

      我们的加热样品台系统，通常由三部分组成：可加热的样品台、TemPro温控系统以及水冷循环系统（可选）。TemPro温控控器配套了专用的温控软件，您可以通过电脑对样品台的温度进行监视和控制。通过TemPro软件，您也可实现功率可变的组合测试。

      我们的温控系统为直流24V输出，可保障用户的使用安全，防止因设备故障产生触电等人身伤害。同时，直流电器的使用，可有效地消除样品台因使用交流电器而产生的干扰。

      标准的SimplePS探针台，在样品移动的功能上仅配置了样品台X-Y移动定位功能。考虑到往复定位的需求，我们也为用户提供了提供了Z轴快速升降功能作为可选项之一。

      Z轴往复功能，让用户轻轻扳把操作把手，就可快速升/降样品台，用于探针与待测点的快速接触与分离操作。使用方法：在进行探针测试前，先扳动把手升起样品台。然后定位好样品的位置，最后操作探针扎到待测点上。测试完成后，先扳动把手降下样品台，使样品与所有探针同时分离后，再操作定位器Z轴，升高探针。该操作流程，可有效避免用户因错误操作压坏探针，特别是价格较高的微波探针或同轴探针。

可选样品台Z轴快升功能

定制化服务，满足光电器件的表征测试需求

      除了标准的产品，我们也为用户提供定制化的服务。KeyFactor可为用户提供专业的结构设计，定制产品结构以适用于用户的激光器、光纤或电磁场等配件，以满足光电器件、纳米机器人等的测试测量要求。

      除了基的I-V/C-V测试套件，SimplePS也可轻松地升级为微弱漏电和高性能型探针台。使用正确的配置，SimplePS探针台可轻松达到小于10fA漏电流和小于10fF寄生电容的测试精度等级。

     微弱漏电测试的主要配件为FemtoProbe或CPA-10同轴探针。该产品设计有同轴屏蔽层，可限度的包裹测试信号，减少漏电和周围电场的干扰。除此之外，我们还提供高性能的屏蔽箱，可保护测试系统在微弱漏电测试时不受静电声及交流电场的干扰。

高性能微弱电流配置

产品功能介绍