X射线能谱EDS

新一代的QUANTAX能谱仪采用*的 slim-line 技术，并可搭载不同有效面积的XFlash® 6探头。而且，依托于改进的超级数模双通道脉冲处理器，布鲁克又一次为能谱仪的操作性和功能性建立了新的标准。

利用以上科技，布鲁克第六代电致冷能谱仪为微米尺度甚至纳米尺度的微区分析提供了迄今为止zui为快速和可靠的分析工具。

布鲁克第六代XFlash® 探测器

种探头面积可选

10, 30, 60 及 100 mm² 的探头面积可选，提供微量分析及纳米分析的理想解决方案

超高脉冲数据处理能力，保证zui快的测量速度

输入计数率超过

输出计数率超过

的能量分辨率，保证*的轻元素和低能端分析

121eV limited edition

123eV ultimate

126eV premium

129eV standard

所有能量分辨率指标均优于 的要求

Slim-line 技术：更高的计数率，更低束流下的分析

简洁的设计，探头小巧轻便

探测器重量不超过

® 6 for SEM

® 6 | 10 及 6 | 30涵盖绝大部分应用领域， 包括高束流分析、低电压（纳米）分析和低真空分析。而XFlash® 6 | 60 和 6 | 100 则适用于一些不常见应用领域，包括低束流分析和对束流极其敏感的样品。

XFlash® 6 | 10 – *能量分辨率SDD

10 mm² 探测器具有分辨率 Mn Ka 121 eV – 业内的能量分辨率；

XFlash® 6 | 30 – 效率超高的全面分析能手

XFlash® 6 | 60 – 大面积SDD，纳米分析专家

60 mm² SDD 适用于低束流分析；

XFlash® 6 | 100 – zui大的探测面积，为低束流应用而生

100 mm² 有效面积，解决一些特殊测试需要；

® 6T for TEM

Bruker XFlash® 6T – 实现在 TEM 和 S/TEM 中zui大的固体角，zui大程度的减少了对电镜在机械和电磁方面的干扰。提供*的检出角，避免不必要的样品倾斜。

XFlash® 6T | 30 – *适用于像差校正透射电子显微镜的SDD

XFlash® 6T | 60 – 固体角zui大的SDD，为埃米级别透射电子显微镜分析而生

60 mm²有效面积，专门适合分析中只有极低X射线产额的情况