Stemi 305

产品简介：集成了照明和照相功能 的一体化设备Stemi 305 是一款采用 Greenough 光路设计的高效实用型体视显微镜，拥有 5:1 变倍比，可用于生物学教学、实验室及工业生产领域。 无需任何准备，轻松获取真彩色三维观察效果。 这款显微镜操作简便，配有长效反射和透射 LED 光源及照相功能。 可使用常规三目观察筒连接蔡司任意一款显微镜相机，或者选用已经集成了 120 万像素的具有 Wifi 功能的照相设备连接其它显微镜，通过无线网实现多台显微镜互连及图片共享。 参考价面议

用于材料研究的Axiolab 5

产品简介：数字化存档从未如此简单若您的常规材料学研究对人体工程学操作和高效的数字化数据记录有较高的需求，那么Axiolab 5便是您的理想之选。由于智能显微镜无需使用额外的成像软件或计算机，因此，从经济角度来说，Axiolab 5也会是您的理想之选。 参考价面议

Smartproof 5

产品简介：蔡司的多功能 Smartproof 5 快速转盘共聚焦显微镜是用于表面分析的集成系统：快速，准确，可重复。可用于各种工业应用——比如粗糙度分析和地形表征——质量保证和质量控制部门，生产部门及 RD 实验室日常分析中需要解决的问题。这套高质量的共聚焦系统使用蔡司 ZEN 图像分析软件，为您带来更大的用户舒适度和提高生产力的附加利益。 参考价面议

翻书式弯折机

产品简介：控制系统：台达DVP系列PLC操控界面：7 TFT LCD触摸屏机械系统：同步轮+同步带运动装置：同步带+步进驱动电源电压：100~200VAC±20% 50/60Hz整机功率：150W设备整个实验台部分用亚克力保护 参考价面议

多通道寿命测试系统

产品简介：系统名称：多通道寿命测试系统产品尺寸：根据客户需求定制治具：兼容顶发射/底发射探针式治具量测仪器：硅光二极管控制系统：电脑 参考价面议

三轴IVL光学测试系统

产品简介：系统名称：三轴IVL光学特性测试系统产品尺寸：根据客户需求定制移动载台：X、Y、Z三轴运行量测仪器：亮度计（支持任意厂商亮度计）控制系统：电脑 参考价面议

蔡司Xradia Synchrotron X射线成像

产品简介：在同步辐射实验室内实现能量可调的超高分辨率三维成像蔡司 Xradia Synchrotron 解决方案将纳米级 X 射线成像技术引入到同步辐射实验室中，让耗时且耗费财力的自主研发成为过去。专属的 X 射线光学器件和成熟的三维 X 射线显微技术，使超亮的可调 X 射线光束在现代化的同步辐射实验室内得以综合应用。借助优于30 nm 的分辨率在多种衬度模式下完成快速的非破坏性三维成像。Xradia Synchrotron 系列包含成像和扫描显微镜，覆盖从软 X 射线到硬 X 射线的宽波长范围 参考价面议

蔡司Xradia 610 & 620 Versa

产品简介：蔡司 Xradia 610 620 Versa更快的亚微米级X射线无损成像技术拓展您的探索极限作为Xradia Versa系列中前沿的产品，蔡司Xradia 610 620 Versa 3D X射线显微镜在科研和工业研究领域为您开启多样化应用的新高度。基于高分辨率和衬度成像技术，Xradia 610 620 Versa 大大拓展了亚微米级无损成像的研究界限。 参考价面议

蔡司Xradia 410 Versa

产品简介：蔡司 Xradia 410 Versa三维亚微米成像的主力解决方案实验室无损亚微米显微镜的空白Xradia 410 Versa 高性能 X 射线显微镜和低功能计算机断层扫描（CT）系统之间的空白。Xradia 410 Versa 以业界出众的分辨率、出色衬度和优质原位性能提供无损 3D 成像，使您可以实现对各种尺寸样品的开创性研究。低成本高性能的标准化主力解决方案强化了成像流程，在不同的实验室环境中应用自如。 参考价面议

Sigma 系列产品

产品简介：用于高品质成像与高级分析的场发射扫描电子显微镜灵活的探测，4步工作流程，高级的分析性能将高级的分析性能与场发射扫描技术相结合，利用成熟的 Gemini 电子光学元件。多种探测器可选：用于颗粒、表面或者纳米结构成像。Sigma 半自动的4步工作流程节省大量的时间：设置成像与分析步骤，提高效率。 参考价面议

蔡司Xradia Context microCT

产品简介：蔡司Xradia Context是一款大视场、非破坏性3D X射线微米计算机断层扫描系统。凭借强大的平台和灵活的软件控制源及探测器定位，您可以在完整的三维环境中对大尺寸、重量25 kg内和高尺度样本进行成像，同样也可以对小样品进行高分辨率的成像。 参考价面议

Crossbeam 系列

产品简介：蔡司Crossbeam系列轻松发现和设计材料蔡司Crossbeam系列的FIB-SEM结合了场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）出色的成像和分析性能，和新一代聚焦离子束（FIB）优异的加工性能。无论是在科研或是工业实验室，您都可以在一台设备上实现多用户同时操作。得益于蔡司Crossbeam系列模块化的平台设计理念，您可以根据自己需求的变化随时升级仪器系统。在加工、成像或是实现三维重构分析时，Crosssbeam系列都将大大提升您的应用体验。 参考价面议