TESCAN MAGNA是一款功能极其强大的分析 仪器，适用于纳米材料的形貌表征以及微观分析。 MAGNA配置Triglav™型SEM镜筒，具有超高分 辨率，镜筒内探测器系统具有电子信号过滤能力， 可以获得更好的图像衬度和表面灵敏度，非常适用 于不导电样品的成像，如陶瓷、无涂层生物样品， 以及半导体光敏样品等。

MAGNA配备肖特基场发射电子枪，能够提供 高达40。nA的束流，结合TriglavTMSEM镜筒出色 的纳米尺度分析性能和高稳定性，为锹分析和长耗 时样品的分析应用提供了条件。

强大的TrileW 三物镇系统

       TESCAN MAGNA 配备的 Triglav™ 型 SEM镜筒,具有TriLensTM三物镜系统,适用领域 更加多样化。

       TriSE™和TriBE™探河器系統

       TESCAN MAGNA配备一代TriSE™和 TriBE™探测■系统：包含三个二次电子探测器和 三个背散射电子探测器，可以根据角度和能量的差 异选诲地收集信号。

•  SE 分辨率：0.6 nm@15kV

•  BSE 分辨率：1.6nm@15kV

•  的探测器系统，可根据角度和能量的差 异选择性地收集信号

•  电子束流高达400 nA,电压也可剛改变， 并保证在所有的分析应用下都能够获得良好 的信号

•  具有优异的低束流能最下检测能力，是表征 表面无镀膜的生物样品的理想工具

•  全新的TESCAN Essence™软件，可自定 义布局，工作效率

1.混有金纳米颗粒的黑硅，In-Beam SE探测器成像。

2.TiO2纳米管，in-column SE探测器成像。

3.碳纳米管（约lOOnm）,分布有1-7 nm的金属纳米颗粒，STEM成像后根据 STEM不同类型信号进行上色的伪彩虱

4.脑组织的突触，in-column BSE探测器成像。