利用扫描探针显微镜光杠杆位移检测技术和超平整参照面-大型样品台扫描技术，并与压电陶瓷（PZT）扫描*结合，可以再不丧失精度的情况下，即得到超大样品整体三维轮廓图，又呈现局部三维形貌像。其中样品台扫描参考平面使用超高平坦度光学抛光平台，有效解决了以往样品台扫面，由于丝杠公差引起的测试结果有亚微米量级的误差。

主要应用在金属材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各种材料表面的薄膜厚度，台阶高度，二维粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），三维粗糙度（Sa,Sq,Smax），划痕截面面积，划痕体积，磨损面积，磨损体积，磨损深度，薄膜应力（曲定量率半径法）等定量测量。摆脱了以往只能得到二维信息，或三维信息过于粗糙的现状。将轮廓仪带入了另一个高精度测量的新时代。

三维轮廓仪热噪声是同类产品zui低的。垂直分辨率可达0.1 nm 可测跨学科、跨领域的各种样品表面，包括透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料（金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…）；

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