NanoMap-D 台阶仪
是用于表面结构测量和表面形貌分析的一款测量计量型设备。既可以用于科学研究，也可以用于工业产品的检测。 该款仪器可以看做是表面研究的万用表，采用接触式和非接触式功能集于一身的设计特点，弥补两种模式的局限，发挥表面形貌仪的测量极限。光学非接触式有速度快，直接三维成象，不破坏样品等特点。探针接触模式方便快捷，制样简单，测量材料广泛。两种模式相结合可以对更多形状、性状、材质的试样进行表面形貌的研究。
台阶仪/三维表面形貌/轮廓仪主要应用在金属材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各种材料表面的薄膜厚度，台阶高度，二维粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），三维粗糙度（Sa,Sq,Smax），划痕截面面积，划痕体积，磨损面积，磨损体积，磨损深度，薄膜应力（曲定量率半径法）等定量测量。摆脱了以往只能得到二维信息，或三维信息过于粗糙的现状。将轮廓仪带入了另一个高精度测量的新时代。

NanoMap-D台阶仪测量表面可以覆盖90%以上材料表面。设备传感器精度高，稳定性好，材料应用面广。热噪声是同类产品zui低的。垂直分辨率可达0.01 nm （ phase-shift mode） 可测跨学科、跨领域的各种样品表面，包括透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料（金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…）；
1、三维表面结构：粗糙度,波纹度，表面结构，缺陷分析，晶粒分析等 
2、二维图像分析：距离,半径,斜坡,格子图, 轮廓线等 
3、表界面测量：透明表面形貌,薄膜厚度，透明薄膜下的表面 
4、薄膜和厚膜的台阶高度测量 
5、划痕形貌，摩擦磨损深度、宽度和体积定量测量 
6、微电子表面分析和MEMS表征


NanoMap-D台阶仪的主要特点：
高精度 
· 的纵向分辨率：0.1 nm （ 接触式）；2 nm（光学非接触式） 
· 对周围环境和光源的强适应性 
· 没有机械过滤 
宽阔的垂直测量范围 
· 多种选择光学头及接触式 
· 纵向扫描范围 300 to 3900 μm 
· 图像“缝合”技术使再大的表面也能呈现在一幅图像内 
试用于几乎所有的表面 
· 透明，不透明，反射光强等多种材料 
· 垂直台阶，高宽深比，隆起，孔洞 
· 脆性的材料，软材料，柔性材料表面 
· 尖锐的，坚硬的，磨损的表面 
适应性强 
· 白光光源，人体安全设计，长寿命白光LED 免维护。可以用于各种环境的实验室，甚至工业生产环境。 
· 接触式轮廓仪和非接触式轮廓仪技术的*结合 
· 接触式轮廓仪针尖扫描采用精确的压电陶瓷驱动扫描模式，三维扫描范围从10μm X 10μm 到500μm X 500μm。样品台扫描使用高级别光学参考平台能使长程扫描范围到50mm。 
· 在扫描过程中结合彩色光学照相机可对样品直接观察 
· 针尖扫描采用双光学传感器，同时拥有宽阔测量动态范围

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