KIF-10A-DW小型LD干涉仪是一款价格低廉、设计紧凑的LD干涉仪。该型号干涉仪使质量检查变得简单容易,适用于在小型透镜的多种类、小批量的生产现场进行快速的质量检查。
| 干涉条纹数值化配套元件KIF-FS10A,是根据干涉仪检查系统KIF-10A系列得到的干涉条纹,对像差进行数值化显示的系统。 |
特长
-
合格判断非常简单
根据可以任意设定的规格值及合格判断功能,能够在生产线中轻松进行合格判断。
-
处理时间迅速
与采用条纹扫描方式的条纹解析软件相比,处理时间短,可实时快速地实现干涉条纹的解析。
-
价格低廉
与条纹扫描型干涉仪系统相比,价格更加低廉。
-
可进行生产工序内管理
因为可以进行数值数据的保存以及画面数据的打印,所以可以进行生产工序内的优良判断管理。
规格
KIF10A用干涉条纹数值化配套元件 |
型号 | KIF-FS10A |
相位计算方式 | 干涉条纹的形状(条纹二值化方式) |
再现性 | PV值0.1λ以下* (3σ的值。根据本公司测定条件) |
干涉条纹解析速度 | 约1.0秒(根据电脑性能) |
OS | Windows XP |
主要功能 | P-V、RMS、Pwr、AS、Coma、Sa3的显示功能(不能进行±判别) |
规格值设定及合格判断功能 |
影面设定功能 |
单一测定、连续测定功能 |
* 因测定时的设置环境以及条纹形状的不同,可能发生机械性能不能充分发挥的情况,敬请咨询详情。
* 本系统不保证数据的可追溯性。本产品定位于在生产线中与参照镜进行比较检查,敬请了解。Windows、Windows XP®是美国微软公司在美国以及其他国家注册的商标。
Windows and Windows XP(R) are registered trademarks of US Microsoft Corporation in USA and other countries.
| 干涉条纹数值化配套元件KIF-FS10A,是根据干涉仪检查系统KIF-10A系列得到的干涉条纹,对像差进行数值化显示的系统。 |
特长
-
合格判断非常简单
根据可以任意设定的规格值及合格判断功能,能够在生产线中轻松进行合格判断。
-
处理时间迅速
与采用条纹扫描方式的条纹解析软件相比,处理时间短,可实时快速地实现干涉条纹的解析。
-
价格低廉
与条纹扫描型干涉仪系统相比,价格更加低廉。
-
可进行生产工序内管理
因为可以进行数值数据的保存以及画面数据的打印,所以可以进行生产工序内的优良判断管理。
规格
KIF10A用干涉条纹数值化配套元件 |
型号 | KIF-FS10A |
相位计算方式 | 干涉条纹的形状(条纹二值化方式) |
再现性 | PV值0.1λ以下* (3σ的值。根据本公司测定条件) |
干涉条纹解析速度 | 约1.0秒(根据电脑性能) |
OS | Windows XP |
主要功能 | P-V、RMS、Pwr、AS、Coma、Sa3的显示功能(不能进行±判别) |
规格值设定及合格判断功能 |
影面设定功能 |
单一测定、连续测定功能 |
* 因测定时的设置环境以及条纹形状的不同,可能发生机械性能不能充分发挥的情况,敬请咨询详情。
* 本系统不保证数据的可追溯性。本产品定位于在生产线中与参照镜进行比较检查,敬请了解。Windows、Windows XP®是美国微软公司在美国以及其他国家注册的商标。
Windows and Windows XP(R) are registered trademarks of US Microsoft Corporation in USA and other countries.