详细介绍

---：韩光兵
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光学测量装置

该干涉仪适用于分析平面光学元件，尤其是在光学拾波器生产线上分析棱镜、平面镜等的透射波面和反射波面。

可测定被测物体的反射角规格
用来折射的反射平面的角度可以变更，所以可以根据被测物体的反射角规格进行测定。此外，可以在同一反射平面内测定分光器的透过波面和反射波面。
可测定405 nm带·650 nm带镜片
标准装载了405 nm和658 nm两种波长的光源，可通过简单的操作切换测定波长，可对任一方的光学元件进行评价。
可进行直线／圆偏光切换
测定在读取头光学元件中使用的具有偏光依存性的被检物时，需要进行直线／圆偏光切换。进行塑料及晶体等具有复折射特性的元件的透过波面测定。
小型·高刚性
小型且高刚性的机身，充分考虑到生产现场的使用环境，所以不占空间即可进行快速质量检查。

可进行合格判断
在的软件中，通过可任意设置的规格值和合格判断设置功能，能够在生产线中轻松进行合格判断。

平面透过波面测定干涉仪 KIF-PU-F：规格
测定波长	405 nm、658 nm（2级激光产品）
干涉方式	Twyman-Green（泰曼-格林）
测定光束径	ø6 mm 可测定光束径：ø2～6 mm
测定可能尺寸	2 mm～10 mm见方左右（棱镜、反射镜等） 80 mm见方、厚1 mm～5 mm、反射角45 °（平面镜切割前的基台） * 使用角度调整工具等时
反射平面镜精度	λ/30（有效光束径ø6 mm以内）
反射平面旋转范围	50°～180°（可测定的反射角：0°及25°以上）
反射镜运行范围	±2°
偏光规格	圆・直线切换
倍率	1×、3×（数码倍率切换）
焦点	有
解析方式	条纹扫描方式
装置重量	机身：约26 kg（电脑除外）
装置尺寸	机身：330（W）×465（D）×370（H） mm
电源规格	100～240 V AC 50～60 Hz、100 VA
使用环境	水平且无振动的地方（地面振动±0.8 m/s²以下）温度：23±3 °C 湿度：60％以下、无结露

* 本装置不保证溯源体系中的精度

1.解析结果显示功能

・P-V、RMS、Pwr
・赛德尔像差（倾斜、焦点、AS、彗差、球面像差）
・Zernike系数（3、4、9、16、25、36项）
・3维鸟瞰图、2维彩图
・横切面侧面像（X、Y方向、PV、RMS）
・合格判断结果

2.文件输入输出功能

・工作参数的保存和读取
・条纹数据的保存和读取
・影面数据的保存和读取
・画面版面的保存和读取
・主窗口打印

3.影面功能

・影面设定（四角形、圆形、多角形、自动影面）
・自动影面设定

4.工作参数设定功能

・产品名、单元名、注释
・波长（405/658）
・修整次数（3/4/9/16/25/36）
・像差清除（像差／Zernike系数）
・显示单位（λ、μm、nm、条纹）
・对Zernike系数的offset设定
・规格值（各像差以及用户定义式）