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残余应力测定仪使用X射线衍射法来测量残余应力和残余奥氏体,适用于所有多晶体材料(包括陶瓷)。
残余应力测定仪技术规格:
主控单元
可自由调整。超紧凑设计
包括
-电源
-电子部件和固件控制单元
-高压发生器
-自循环液体冷却系统,不需外部供水
-确保安全所需的所有互锁装置
残余奥氏体测量
实验室精度
不需切割试样
测角仪
测角仪安装在一个带有磁座的三角架上。
-倾角:可编程-60°~ +60°(标准)
-摇摆:可编程0°~ ±6°
探测器
在几何系统的入射线两侧对称安装了高精密度的MOS线性成像探测器
角精度:0.014°-0.057°象素
软件
操作系统:Windows。
软件
◆ 操作系统: Windows◆ 丰富的材料数据库
探测器技术
◆ 简洁紧凑,无需高压,功耗1mW