残余应力测量仪使用X射线衍射法来测量残余应力和残余奥氏体，适用于所有多晶体材料（包括陶瓷）。
残余应力测量仪产品特点：
具有自动校准功能，方便操作
自动对焦功能，可以根据物体距离自动调节
激光定位：保证了测量的准确性
设备重量轻，方便携带
测角仪有效的避免了探臂式结构的干扰现象
Xstress3000表面应力分析检测仪技术规格：
主控单元
可自由调整。超紧凑设计
包括
-电源
-电子部件和固件控制单元
-高压发生器
-自循环液体冷却系统，不需外部供水
-确保安全所需的所有互锁装置
残余奥氏体测量
软件
◆ 操作系统： Windows
◆ X射线的发生和控制
◆ 实时监控高压系统
◆ 多种X射线曝光模式
◆ 可同时进行测量、计算和其它功能操作
◆ 多点d-sin²Ψ曝光模式，互相关法计算峰位移
◆ 丰富的材料数据库
测角仪
◆ 倾斜和旋转
◆ 改进的y几何（侧倾法）
◆ 对称安装的双探测器
◆ 连续可调的2q角范围：117-170度
◆ 多种准直器可更换，直径从Φ1到Φ5，包括特殊小直径Φ0.5和Φ0.8甚至更小
◆ 全自动校准，自动调整*测距，行程误差小于0.003mm
安全性能
◆ “X射线打开”和“窗口打开”指示灯。
◆ 若窗口堵塞、打开或移动，管壳松动或被移动，冷却液温度过高或其它流动不畅通时，能自动关闭X射线。
