将的分析性能与场发射扫描技术相结合，利用成熟的Gemini电子光学元件。多种探测器可选：用于颗粒、表面或者纳米结构成像。Sigma 半自
动的4步工作流程节省大量的时间：设置成像与分析步骤，提高效率。
Sigma 300性价比高。Sigma 500装配有的背散射几何探测器，可快速方便地实现基础分析。任何时间，任何样品均可获得精准可重复的分析结
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使用新颖的ETSE和Inlens探测器在高真空下获取高分辨率表面形貌信息。
使用VPSE或C2D检测器在可变压力模式下获得清晰图像。
SmartSEM Touch是现已有操作系统的附加组件，用于多用户环境，是一种简洁的用户界面。
它同时为操作经验丰富的专家用户和初级用户提供了简便的操作。
基于实际的实验室环境，SEM的操作可能是电子显微镜专家的专属领域。
但是，非专业用户（例如学生，接受培训不久的人员或质量工程师）也需要使用SEM获取数据，因此也有使用SEM的需求。Sigma 300和Sigma
300 VP将非专业用户的需求考虑在内，其用户界面选项可满足操作经验丰富的显微镜专家和显微镜新手用户的操作需求。
利用探测术为您的需求定制Sigma，表征所有样品。
利用新一代的二次探测器，获取高达50％的信号图像。在可变压力模式下利用Sigma 创新的C2D和可变压力探测器，在低真空环境下获取高达
4步工作流程让您控制Sigma的所有功能。在多用户环境中，从快速成像和节省培训首先，先对样品进行导航，然后设置成像条件。
接下来对样品感兴趣的区域进行优化并自动采集图像。最后使用工作流程的步，将结果可视化。
将扫描电子显微镜与基本分析相结合：Sigma的背散射几何探测器大大提升了分析性能，特别是对电子束敏感的样品。
获益于8.5mm短的分析工作距离和35°夹角，获取完整且无阴影的分析结果。
