HED-C5000
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上海岑航科技发展有限公司
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DPA 503N
MK.4TE测试系统
MK.2TE测试系统
ESD(静电放电)测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量保证都是的。
● 满足JS-002,JEDEC,ESDA,AEC等CDM模型测试规范
● 测试电压可达4KV,为同类型机台
● 供应商为JS-002规格制定委员会成员,技术可靠
● 硬件软件的使用操作简单,容易上手,为半导体Leading company的推荐使用机型
● 具有D-AEC充放电功能的CDM测试机台
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