被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。 

• 微小样品检测：最小测量面积0.008mm²

• 变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-90mm

• 自主研发的EFP算法：AI(3)-U(92)元素的成分分析，Li(3)-U(92)元素的涂镀层检测，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可精准测量

• 的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限

• 高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积20/50mm²探测器

• X射线装置：微焦加强型射线管搭配聚焦装置

• 上照式设计：实现对超大样品或者密集点位进行快、准、稳高效率测量

• 可编程自动位移：选配自动平台，X210*Y230*Z145mm行程内无人值守自动测量

• 多准直器自动切换