XU-100镀层测厚仪_金属镀层测厚仪器-苏州邦鑫电子技术有限公司手机版

详细介绍

XU-100光谱测厚仪采用下照式C型腔体设计，搭配微聚焦X射线发生器和高集成垂直光路系统，以及高敏变焦测距装置，对各种大小异形件都可快速、精准、无损测量。 检测各种金属镀层，检出限可达0.005μm，最小测量面积0.2mm²，凹槽深度测量范围可达0-30mm，是一款测量镀层厚度性价比高、适用性强的机型。

1.下照式设计 

可以快速方便地定位对焦样品。 

2.高精密微型移动滑轨

快速精准定位样品。

3. 微焦X射线装置

 最小检测面积可达0.2mm²的样品，可进行各类电镀层膜厚检测。 

高效率正比接收器即使测试0.2mm²的样品，几秒钟也能达到稳定性。

4. 变焦装置算法

 可对各种异形凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm。 

5.的EFP算法

 多层多元素，包括有同种元素在不同涂镀层的检测，都可以快、准、稳的做出数据分析。

产品简介

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