测试速度超快的微纳米力学测试平台

Nano Indenter^® G200系统专为各种材料的表征和开发过程中进行纳米级测量而设计。该系统是一个可升级，可扩展且经过生产验证的平台，全自动硬度测量可应用于质量控制和实验室环境。

产品描述 

Nano Indenter^® G200系统是一种准确，灵活，使用方便的纳米级机械测试仪器。G200测量杨氏模量和硬度，包括从纳米到毫米的六个数量级的形变测量。该系统还可以测量聚合物，凝胶和生物组织的复数模量以及薄金属膜的蠕变响应（应变率灵敏度）。模块化选项可适用于各种应用：频率特定测试，定量刮擦和磨损测试，集成的基于探头的成像，高温纳米压痕测试，扩展负载容量高达10N和自定义测试。

主要功能

• 电磁驱动可实现高动态范围下力和位移测量

• 用于成像划痕，高温纳米压痕测量和动态测试的模块化选项

• 直观的界面，用于快速测试设置；只需几个鼠标点击即可更改测试参数

• 实时实验控制，简便的测试协议开发和精确的热漂移补偿

• 屡获殊荣的高速“快速测试”选项，用于测量硬度和模量

• 多功能成像功能，测量扫描和流程化测试方法，帮助快速得到结果

• 简单快捷地确定压头面积函数和载荷框架刚度

主要应用

• 高速硬度和模量测量

• 界面附着力测量

• 断裂韧性测量

• 粘弹性测量

• 扫描探针显微镜（3D成像）

• 耐磨损和耐刮擦

• 高温纳米压痕

工业应用

• 大学，研究实验室和研究所

• 半导体和电子工业制造业

• 轮胎行业

• 涂层和涂料工业

• 生物医药行业

• 医疗仪器

• 更多应用：请根据您的要求与我们联系

主要性能

增强的载荷加载系统

增强的纳米划痕测试

更强化的微摩擦磨损测试功能

粘弹性材料性能测量功能－DMA 功能

增强的恒应变速率测试功能

的连续刚度测量功能

增强的原位纳米力学测试功能

Survey Scanning图像功能

超高精度成像定位功能

的接触刚度成像功能

的革命性的超快压痕技术

从MTS公司到安捷伦公司再到KLA公司

– KLA是较大的半导体在线测量领域的公司。

– 在 1983 年发明了一台的纳米压痕仪。

– 我们拥有世界上及国内相当大的纳米压痕仪客户群。

– 是符合 ISO-14577、ASTM-E2546-07、GB/T22458-2008、GB/25898-2010 等国家标准的纳米压痕仪供货商。

– 大且灵活的加载范围——适用于各种材料和硬质薄膜及涂层检测。

– 大的压头移动范围——适用于各种较厚薄膜和涂层、粗糙度较大的样品。

– 的位移探测精度。

– 的技术——连续刚度测量模块。

– 的恒应变加载模式。

– 的金刚石压头制造工艺。

– 整个测量过程中热飘移效应实时扣除——KLA的技术。

– 功能强大的 NanoSuite 6 控制软件——行业中的较为强大的控制软件。

– 真正的原位成像和原位纳米力学测试功能。

– 性能的防震抗噪系统。

– 全自动控制的光学显微镜系统。

– KLA在中国设置了当地的维修和培训中心。

– 强大的技术团队。

– 拥有国内领域较大的客户群。