产品描述

常温SEM原位纳米压痕仪——NanoFlip纳米压痕仪提供高精度XYZ位移，可定位样品进行测试，还提供翻转机制，可定位样品进行成像。InView软件附带一套测试方法，涵盖一系列测试协议，并允许用户创建自己的新颖测试方法。InForce50驱动器在真空和常压条件下表现同样出色。InView软件可以记录SEM或其他显微镜图像，并与机械测试数据进行同步。创新的FIB-to-Test技术允许样品倾斜90°，无需移除样品即可实现从FIB到压痕测试的无缝过渡。

主要功能

·        InForce 50驱动器，用于电容位移测量，并配有电磁启动的可互换探头

·        InQuest高速控制器电子设备，具有100kHz数据采集速率和20μs时间常数

·        用于样本定位的XYZ移动系统

·        SEM视频捕获，可以将SEM图像和测试数据进行同步

·        的软件集成压头校准系统，可实现快速，准确的压头校准

·        与Windows^®10兼容的InView控制和数据查看软件以及协助用户设计实验的方法开发功能

主要应用

·        硬度和模量测量（Oliver-Pharr）

·        连续刚度测量

·        高速材料性质分布图

·        ISO 14577硬度测试

·        聚合物的纳米动态力学分析（DMA）

·        定量刮擦和磨损测试

工业应用

·        大学、研究实验室和研究所

·        支柱和微球制造

·        MEMS（微机电系统）

·        材料制造（结构压缩/断裂测试）

·        电池和元件制造