iEDX-150μWTX射线荧光镀层厚度测试仪 iEDX-150μWT
X射线荧光镀层厚度测试仪 iEDX-150μWT,1.镀层检测,多镀层检测可达5层,精度及稳定性高(见以下产品特征详述)。2.多导毛细管配置,光斑尺寸50um3.平台尺寸:620*525mm,样品移动距离可达250*250mm。4.激光定位。5.可检测软硬板电镀层厚度。6.运行及维护成本低、无易损易耗品,对使用环境相对要求低。7.可进行未知标样扫描、无标样定性,半定量分析。 参考价面议iEDX-150TX射线电镀膜厚测试仪iEDX-150T
X射线电镀膜厚测试仪iEDX-150T,产品类型:能量色散X荧光光谱分析设备 ;产品名称:镀层厚度测试仪;型 号:iEDX-150T;生 产 商:韩国ISP公司。技术特性:1.进行镀层厚度检测,多检测镀层可达5层。2.元素检测范围:AL(13号元素)至U(92号元素) 。3.可检测固体、粉末状态材料。4.计算机 / MCA(多通道分析仪)。5、测试精度可做到+/-5% 参考价面议iEDX-150WTX射线电镀膜厚测试仪iEDX-150WT
X射线电镀膜厚测试仪iEDX-150WT,产品类型:能量色散X荧光光谱分析设备 ;产品名称:镀层厚度测试仪;型 号:iEDX-150WT;生 产 商:韩国ISP公司。技术特性:1.进行镀层厚度检测,多检测镀层可达5层。2.元素检测范围:AL(13号元素)至U(92号元素) 。3.可检测固体、粉末状态材料。4.计算机 / MCA(多通道分析仪)。5、测试精度可做到+/-5% 参考价面议iEDX-150μTX射线镀层厚度测试仪 iEDX-150μT
X射线镀层厚度测试仪 iEDX-150μT,iEDX-150μT 镀层测厚仪能精确稳定高速无接触测量带钢表面锌层和其它金属层的厚度(重量).系统具有的特点和功能能使用户准确控制所生产的镀层厚度, iEDX-150μT系统广泛并成功地应用于世界多个国家和地区. 它的功能比如较快的采样频率,大的检测距离,售后服务和技术支持遍布多个国家,是工业领域镀层重量检测技术的先锋。 参考价面议iEDX-150T电镀镀层测厚仪iEDX-150T
电镀镀层测厚仪iEDX-150T,产品类型:能量色散X荧光光谱分析设备 ;产品名称:镀层厚度测试仪;型 号:iEDX-150T;生 产 商:韩国ISP公司。技术特性:1.进行镀层厚度检测,多检测镀层可达5层。2.元素检测范围:AL(13号元素)至U(92号元素) 。3.可检测固体、粉末状态材料。4.计算机 / MCA(多通道分析仪)。5、测试精度可做到+/-5% 参考价面议iEDX-150TX射线镀层测厚仪iEDX-150T
X射线镀层测厚仪iEDX-150T,产品类型:能量色散X荧光光谱分析设备 ;产品名称:镀层厚度测试仪;型 号:iEDX-150T;生 产 商:韩国ISP公司。技术特性:1.进行镀层厚度检测,多检测镀层可达5层。2.元素检测范围:AL(13号元素)至U(92号元素) 。3.可检测固体、粉末状态材料。4.计算机 / MCA(多通道分析仪)。5、测试精度可做到+/-5% 参考价面议iEDX-150WTX射线镀层测厚仪iEDX-150WT
X射线镀层测厚仪iEDX-150WT,产品类型:能量色散X荧光光谱分析设备 ;产品名称:镀层厚度测试仪;型 号:iEDX-150WT;生 产 商:韩国ISP公司。技术特性:1.进行镀层厚度检测,多检测镀层可达5层。2.元素检测范围:AL(13号元素)至U(92号元素) 。3.可检测固体、粉末状态材料。4.计算机 / MCA(多通道分析仪)。5、测试精度可做到+/-5% 参考价面议iEDX-150WTX射线荧光镀层厚度测试仪iEDX-150WT
X射线荧光镀层厚度测试仪iEDX-150WT,产品类型:能量色散X荧光光谱分析设备 ;产品名称:镀层厚度测试仪;型 号:iEDX-150WT;生 产 商:韩国ISP公司。技术特性:1.进行镀层厚度检测,多检测镀层可达5层。2.元素检测范围:AL(13号元素)至U(92号元素) 。3.可检测固体、粉末状态材料。4.计算机 / MCA(多通道分析仪)。5、测试精度可做到+/-5% 参考价面议iEDX-150TX射线荧光镀层厚度测试仪iEDX-150T
X射线荧光镀层厚度测试仪iEDX-150T,产品类型:能量色散X荧光光谱分析设备 ;产品名称:镀层厚度测试仪;型 号:iEDX-150T;生 产 商:韩国ISP公司。技术特性:1.进行镀层厚度检测,多检测镀层可达5层。2.元素检测范围:AL(13号元素)至U(92号元素) 。3.可检测固体、粉末状态材料。4.计算机 / MCA(多通道分析仪)。5、测试精度可做到+/-5% 参考价面议HX5000鸿熙工业X-ray光管组件、X射线管
鸿熙工业X-ray光管组件、X射线管iEDX-100TX射线荧光光谱分析设备、镀层厚度测试仪
X射线荧光光谱分析设备、镀层厚度测试仪1.镀层检测,多镀层检测可达5层,精度及稳定性可控制在+/-5%内。2.可检测固体、粉末状态材料。3.运行及维护成本低、无易损易耗品,对使用环境相对要求低。4.可进行未知标样扫描、无标样定性,半定量分析。5.操作简单、易学易懂、精准无损、高品质、高性能、高稳定性,快速出检测结果。 参考价¥178000iEDX-150μWT镀层厚度测试仪 iEDX-150μWT
镀层厚度测试仪 iEDX-150μWT,1.镀层检测,多镀层检测可达5层,精度及稳定性高(见以下产品特征详述)。2.多导毛细管配置,光斑尺寸50um3.平台尺寸:620*525mm,样品移动距离可达250*250mm。4.激光定位。5.可检测软硬板电镀层厚度。6.运行及维护成本低、无易损易耗品,对使用环境相对要求低。7.可进行未知标样扫描、无标样定性,半定量分析。 参考价面议