X射线镀层测厚仪iEDX-150T

iEDX-150TX射线镀层测厚仪iEDX-150T

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2019-10-22 15:50:31
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广州鸿熙电子科技有限公司

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产品简介

X射线镀层测厚仪iEDX-150T,产品类型:能量色散X荧光光谱分析设备 ;产品名称:镀层厚度测试仪;型 号:iEDX-150T;生 产 商:韩国ISP公司。技术特性:1.进行镀层厚度检测,多检测镀层可达5层。2.元素检测范围:AL(13号元素)至U(92号元素) 。3.可检测固体、粉末状态材料。4.计算机 / MCA(多通道分析仪)。5、测试精度可做到+/-5%

详细介绍

X射线镀层测厚仪iEDX-150T

产品优势及特征

(一)产品优势

(二)产品特征

2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换器)。

励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

线性模式进行层厚度测量

相对(比)模式  无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多镀层厚度同时测量

镀层应用 [Cu/ABS等]

镀层应用 [Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]

镀层应用 [Au/Ni-P/Cu/Brass等]

镀层应用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb]

合金层应 [如:Sn-Ni/ABS  Pd-Ni/Cu/ABS等]

5. Smart-Ray. 快速简单的定性分析的软件模块。可同时分析20种元素。半定量分析频谱比较、减法运算和配给。

Smart-Ray. 金属行业精确定量分析软件。可一次性分析25种元素。小二乘法计算峰值反卷积。采用卢卡斯-图思计算方法进行矩阵校正及内部元素作用分析金属分析精度可达+ /-0.02%,贵金属(8-24 Karat) 分析精度可达+ /-0.05kt

Smart-Ray。含全元素、内部元素、矩阵校正模块。

X射线镀层测厚仪iEDX-150T

产品配置及技术指标说明

u 测量原理:能量色散X射线分析

u 样品类型:固体/粉末

u X射线光管:50KV1mA

u过滤器:多重滤光片自动转换

u检测系统:SDD探测器(或Si-Pin)

u能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)

u检测元素范围:Al (13) ~ U(92)

u准直器孔径0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可选)

u应用程序语言:韩/英/中

u分析方法:FP/校准曲线,吸收,荧光

u仪器尺寸:618*525*490mm

u样品台尺寸:250*225mm

 

1. X射线管:高稳定性X光光管,使用寿命(工作时间>18,000小时)

微焦点X射线管、Mo ()

铍窗口, 阳极焦斑尺寸75um,油绝缘,气冷,辐射安全电子管屏蔽。

50kV,1mA。高压和电流设定为应用程序提供zuijia性能。

能量分辨率:125±5eVSi-Pin:159±5eV

初级滤光片:Al滤光片,自动切换

7个准直器:客户可选准直器尺寸或定制特殊尺寸准直器。

(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )

5. 分析谱线:

- 2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换)

- 基点改正(基线本底校正)

- 密度校正

- Multi-Ray软件包含元素ROI及测量读数自动显示

6.视频系统:高分辨率CCD摄像头、彩色视频系统

- 观察范围:3mm x 3mm

- 放大倍数:40X

- 照明方法:上照式

- 软件控制取得高真图像

7. 计算机、打印机(赠送)

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