能量色散X荧光光谱分析设备-镀层厚度测试仪

iEDX-150T能量色散X荧光光谱分析设备-镀层厚度测试仪

参考价: 订货量:
222000 1

具体成交价以合同协议为准
2019-10-08 17:24:29
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产品简介

产品类型:能量色散X荧光光谱分析设备
产品名称:镀层厚度测试仪
型 号:iEDX-150T
生 产 商:韩国ISP公司
亚太地区战略合作伙伴:广州鸿熙电子科技有限公司
能量色散X荧光光谱分析设备-镀层厚度测试仪是专业用于五金电镀、金属镀层厚度分析领域的一款X射线荧光仪

详细介绍

一、产品概述

 

 

产品类型:能量色散X荧光光谱分析设备 

产品名称:镀层厚度测试仪

型    号:iEDX-150T

生 产 商:韩国ISP公司

亚太地区战略合作伙伴:广州鸿熙电子科技有限公司

 

 

产品图片:

 

能量色散X荧光光谱分析设备-镀层厚度测试仪

镀层厚度测试仪  iEDX-150T

 

工作条件

工作温度:15-30

电源:AC: 110/220VAC 50-60Hz

相对湿度:<70%,无结露

功率:150W + 550W

 


二、产品优势及特征

(一)产品优势

1. 镀层检测,多镀层检测可达5层,精度及稳定性可控制+/-5%内

2. 仪器尺寸:618*525*490mm,样品移动距离:160*150*90mm。

3. 激光定位和自动多点测量功能。

(二)产品特征

2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换器)。

励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

线性模式进行层厚度测量

相对(比)模式  无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多镀层厚度同时测量

镀层应用 [Cu/ABS等]

镀层应用 [Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]

镀层应用 [Au/Ni-P/Cu/Brass等]

镀层应用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb]

合金层应 [如:Sn-Ni/ABS  Pd-Ni/Cu/ABS等]

5. Smart-Ray. 快速简单的定性分析的软件模块。可同时分析20种元素。半定量分析频谱比较、减法运算和配给。

Smart-Ray. 金属行业精确定量分析软件。可一次性分析25种元素。小二乘法计算峰值反卷积。采用卢卡斯-图思计算方法进行矩阵校正及内部元素作用分析金属分析精度可达+ /-0.02%,贵金属(8-24 Karat) 分析精度可达+ /-0.05kt

Smart-Ray。含全元素、内部元素、矩阵校正模块。

 

三、产品配置及技术指标说明

u 测量原理:能量色散X射线分析

u 样品类型:固体/粉末

u X射线光管:50KV1mA

u过滤器:5过滤器自动转换

u检测系统:SDD探测器(或Si-Pin

u能量分辨率:125±5eVSi-Pin:159±5eV

u检测元素范围:Al (13) ~ U(92)

u准直器孔径0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可选)

u应用程序语言:韩/英/中

u分析方法:FP/校准曲线,吸收,荧光

u仪器尺寸:618*525*490mm

u样品移动距离:160*150*90mm

能量色散X荧光光谱分析设备-镀层厚度测试仪

1. X射线管:高稳定性X光光管,使用寿命(工作时间>18,000小时)

微焦点X射线管、Mo ()

铍窗口, 阳极焦斑尺寸75um,油绝缘,气冷,辐射安全电子管屏蔽。

50kV,1mA。高压和电流设定为应用程序提供jia性能。

能量分辨率:125±5eVSi-Pin:159±5eV

初级滤光片:Al滤光片,自动切换

7个准直器:客户可选准直器尺寸或定制特殊尺寸准直器。

(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )

6. 分析谱线:

- 2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换)

- 基点改正(基线本底校正)

- 密度校正

- Multi-Ray软件包含元素ROI及测量读数自动显示

7.视频系统:高分辨率CCD摄像头、彩色视频系统

- 观察范围:3mm x 3mm

- 放大倍数:40X

- 照明方法:上照式

- 软件控制取得高真图像

8. 计算机、打印机(赠送)

注:设备需要配备稳压器,需另计

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