产品概述

产品类型：能量色散X荧光光谱分析设备 

产品名称：镀层厚度测试仪

型    号：iEDX-150μT

生 产 商：韩国ISP公司

亚太地区战略合作伙伴：广州鸿熙电子科技有限公司

镀层厚度测试仪  iEDX-150μT

三、系统描述及主要技术数据

iEDX-150μT 镀层测厚仪能精确稳定高速无接触测量带钢表面锌层和其它金属层的厚度（重量）.系统具有的特点和功能能使用户准确控制所生产的镀层厚度, iEDX-150μT系统广泛并成功地应用于世界多个国家和地区. 它的功能比如快的采样频率,大的检测距离,售后服务和技术支持遍布多个国家,是工业领域镀层重量检测技术的先锋.整个设备均免维护.适用于镀锌，镀铝锌,鋅铝合金，镀铬，镀锡等生产线，检测镀层厚度（单面）0-350克/平方米。

（一）模块介绍

1.1检测单元

使用的硅漂移SDD探测器,*的电子制冷技术，保证测量的精确性和稳定性，确保带钢锌层厚度（重量）精确控制。

射线源是利用50千伏高压产生X射线,射线源可以在10~50千伏自由调整,保证用合适的激发电压检测锌层的厚度。

1.2检测应用程序

监测系统的控制和管理，运用工业领域里的多核因特尔处理器计算机,能保证工业领域里快的响应，使用WINDOWS 7操作系统为使用者提供了容易理解、容易操作和便于维护的系统。

1.3 校准模块

多片复合式校准模块，在做校准时测试头移动到校准模块检测面上完成校准，保证仪器测量数据的准确性。

1.4 扫描模式

iEDX-150μT 镀层厚度（重量）检测系统具备几种检测模式,操作员通过电脑轻松选择这些扫描模式,扫描模式通常有以下几种:

A 单点模式

使探测器固定在带钢的任意位置扫描,这种检测模式能测量带钢纵向某条直线的锌层厚度, 在电脑上会实时显示那个位置镀层厚度。

B 连续扫描模式

传感器沿带钢边对边横向位置作连续扫描,每一次来回扫描,横向剖面图被计算出来,并以彩色显示在电脑屏幕上,操作员会看见横向整个宽度的锌层厚度显示。

C 三点检测模式

测量头在带钢的边中边3个位置连续行走检测,弟一个测量位置在左边距离带钢边缘处检测,第二个位置在带钢的中心位置检测,第三个位置在右边带钢处检测,连续循环反复。

1.5 操作控制

测试系统的所有控制由操作电脑鼠标和键盘来完成。现场计算机可以完成所有控制、操作、校准等操作功能，控制室远程计算机只完成结果显示、操作测试、结果打印等功能。

电脑上显示内容：

※ 日期、时间、卷号、目标厚度、正面厚度、背面厚度、平均厚度、耗锌量、加锌提示

※ 测试数据折线图、趋势图显示

※ 三点 顶部，左、中、右

※ 三点 底部，左、中、右

1.6 标准化

操作电脑系统完成标准化,在现场计算机中操作探测器自动移动到标样片上回零,消除漂移和传感器表面赃物对检测的影响。

1.7 (MIS) 信息管理(报表)

通过信息管理系统, 报表自动产生,卷报表,班报表,日报表可存储5年以上,也可以很方便地手动或自动打印出来.卷报表包括：日期 时间 钢卷号 锌层厚度 单卷耗锌量 生产班组 检验员。

1.8 数字分辨率

检测时显示的数字分辨率为0.1克/平方米（g/m2）。

1.9 通讯方式

与上位机或2级系统通讯采用TCP/IP或 OPC (*使用OPC) 需终与买方确认。

（二）系统软件特征

2.1高性能高精度X荧光光谱仪（XRF）

2.2界面信息，可根据客户实际需求做简单调整

   2.3计算机 / MCA(多通道分析仪)

2048通道逐次近似计算法ADC（模拟数字转换器）

   2.4 Multi Ray. 运用基本参数法（FP）软件，对样品进行精确的镀层厚度分析，可对镀液进行定量分析。

   2.5 MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度及全元素分析

励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

线性模式进行薄膜镀层厚度测量

相对（比）模式  无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多镀层厚度同时测量

单镀层应用 [如：Cu/ABS等]

双镀层应用 [如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]

三镀层应用 [如：Au/Ni-P/Cu/Brass等]

四镀层应用 [如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]

合金镀层应 [如：Ni-Zn/Fe Sn-Ni/ABS  Pd-Ni/Cu/ABS等]

2.6 Multi-Ray 金属行业精确定量分析软件。可同时分析20种元素。小二乘法计算峰值反卷积。采用卢卡斯-图思计算方法进行矩阵校正及内部元素作用分析。金属分析精度可达±0.02%，贵金属（8-24 Karat) 分析精度可达±0.05kt

2.7 Multi-Ray WINDOWS 7软件操作系统

2.8完整的统计函数均值、 标准差、 低/高读数，趋势线，Cp 和 Cpk 因素等

2.9自动移动平台，用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量,自动多点分析。每个阶段的文件有多 25 个不同应用程序。特殊工具如"线扫描"和"格栅"。每个阶段文件包含*统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能。

（三）设备技术规格书

3.1 检测单元说明

50千伏 X射线管, 功率50瓦

探头为美国高性能硅漂移SDD探测器，分辨率125±5eV

X高压电源，美国Spellman(斯派曼)50瓦高压电源

3.2 系统参数

测试结果实时显示

漂移：0.1% （8小时）

标准化：每8小时一次（自动）*

锌层厚度范围：0.01~50um

检测距离（从传感器到带钢表面）：10~20毫米

检测范围: 单面可达50um(350克)

3.3 精度(单面)

At: 50g/㎡           ±0.20 g/m2

At: 75g/㎡           ±0.20 g/m2

At: 100g/㎡          ±0.25 g/m2

At: 150g/㎡           ±0.45 g/m2

At: 200g/㎡           ±1.00 g/m2

重复性(单面): ±0.25%或±0.25g/㎡(取大者) 

四、产品配置及技术指标说明

  镀层厚度测试仪  iEDX-150μT

4.1 X射线管：高稳定性X射线管，使用寿命（工作时间>18,000小时）

微焦点x射线管

铍窗口， 光斑尺寸75um，油绝缘，气冷式，辐射安全电子管屏蔽。

50kV，1mA。高压和管流设定为应用程序提供zuijia性能。

4.2 探测器：SDD探测器

能量分辨率：125±5eV

4.3滤光片/可选

初级滤光片：Al滤光片，自动切换

小光斑直径：0.035mm(可调）          

4.4样品定位：显示屏上显示样品锁定、简易荷载、激光定位及拍照功能

4.5分析谱线：

- 2048通道逐次近似计算法ADC（模拟数字转换）

- 基点改正（基线本底校正）

- 密度校正

- Multi-Ray软件包含元素ROI及测量读数自动显示

4.6检测厚度（正常指标）：

- 原子序数 22 - 24 : 6 ～ 1000 微英寸

- 原子序数 25 - 40 : 4 ～ 1200 微英寸

- 原子序数 41 - 51 : 6 ～ 3000 微英寸

- 原子序数 52 - 82 : 2 ～  500 微英寸

4.7计算机、打印机（赠送）

• 含计算机、显示器、打印机、键盘、鼠标
• 含Windows 7操作系统
• Multi-Ray软件