激光芯片开封机 GLOBAL ETCH II

激光芯片开封机 GLOBAL ETCH II基本原理：

封外壳，从而光学观测或者电气性能测试提供了可能性，以便于实现X射线等无损检测无法实现的功能。
激光开封技术也可以在不破坏芯片或者电路的整体功能的前提下，去除局部的塑封材料，进行测试甚至修复实验。与化学开封技术相比，激光开封更加高效，同时避免了减少强酸环境暴露。

应用领域：
去除半导体芯片的塑封外壳，PCB板截面切割，以及其它类似的破坏性物理试验或失效分析场景。

产品优势：

• 来自德国的高精密激光扫描头（SCANLAB）

• 激光脉冲宽度可调（1ns-250ns）

• 激光系统与CCD视觉系统同轴共焦，实时观测激光扫描过程

• 可直接导入X-Ray或者超声波扫描图像，为复杂定点开封提供支持

• 强大的软件功能，保证了定位、区域标定、聚焦、参数设定、条码绘制等功能得以简洁可靠地实现

• 高性能烟尘过滤系统，自动震动防堵，可过滤98%以上0.3um直径的环氧树脂颗粒