ZJD高频介电常数介质损耗测试仪

ZJD高频介电常数介质损耗测试仪

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2024-08-29 13:55:03
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上海长肯试验设备有限公司

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产品简介

产品详情1、产品适用范围适用于绝缘导热硅胶,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光学胶,环氧树脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龙/涤纶,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等2、产品图片(仅供参考,以实物为准) 3、特点●双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。●双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入

详细介绍

产品详情


1、产品适用范围

适用于绝缘导热硅胶,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光学胶,环氧树脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龙/涤纶,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等

2、产品图片(仅供参考,以实物为准)


 

 

 

3、特点

双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。

双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。
自动化测量技术 -对测试件实施 值、谐振点频率和电容的自动测量。
全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 值、信号源频率、谐振指针。

DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高精确、幅度的高稳定。

●计算机自动修正技术和测试回路0优化 —使测试回路 残余电感减至0低, 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。

●电感测试时,设备自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能,提高了电感值(特别是小电感值)测量的精度。此功能为北京智德创新公司生产的Q*

4、技术参数


ZJD高频介电常数介质损耗测试

型号

ZJD-B

ZJD-A

ZJD-C

信号源范围DDS数字合成信号

10KHZ-70MHz

10KHZ-110MHz

100KHZ-160MHz

信号源频率覆盖比

7000:1

11000:1

1600:1

信号源频率精度 6位有效数

3×10-5 ±1个字

3×10-5 ±1个字

3×10-5 ±1个字

Q测量范围

1-1000自动/手动量程

1-1000自动/手动量程

1-1000自动/手动量程

Q分辨率

4位有效数,分辨率0.1

4位有效数,分辨率0.1

4位有效数,分辨率0.1

Q测量工作误差

<5%

<5%

<5%

电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH

1nH-8.4H , 分辨率0.1nH

1nH-8.4H  分辨率0.1nH

1nH-140mH分辨率0.1nH

电感测量误差

<5%

<5%

<5%

调谐电容

主电容30-500pF

主电容30-500pF

主电容17-240pF

电容直接测量范围

1pF~2.5uF

1pF~2.5uF

1pF~25nF

调谐电容误差

分辨率

±1 pF或<1%

0.1pF

±1 pF或<1%

0.1pF

±1 pF或<1%

0.1pF

谐振点搜索

自动扫描

自动扫描

自动扫描

Q合格预置范围

5-1000声光提示

5-1000声光提示

5-1000声光提示

Q量程切换

自动/手动

自动/手动

自动/手动

LCD显示参数

F,L,C,Q,Lt,Ct波段等

F,L,C,Q,Lt,Ct波段等

F,L,C,Q,Lt,Ct波段等

自身残余电感和测试引线电感的
自动扣除功能(*)

大电容值直接测量显示功能

测量值可达2.5uF

测量值可达2.5uF

测量值可达25nF

5、结构概述


高频介电常数介质损耗测试由平板电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,介电常数及介质损耗测试系统的主机则是一台阻抗测量设备(高频Q表)。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到

 



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