纳米级镀层的快速、准确分析
 

　　FT160 XRF镀层分析仪准确、可靠地测量小部件上的镀层，有助于您在PCB、半导体晶片和微连接器上维持一致且准确的镀层。
 

　　FT160专为微焦斑和超薄镀层分析而设计，针对小部件的测量优化了光学系统和探测器技术。
 

　　使用FT160 XRF镀层分析仪可实现更多操作：
 

　　高强度X射线——仪器的核心是一个具有30μm光束的新型毛细管光学系统，非常适合微小的半导体图案和超小组件。
 

　　高灵敏度的SDD探测器——这款高性能设备使计数速率翻倍，从而提高生产率。
 

　　高清相机——观察相机的分辨率高，其具有16倍数字变焦功能，更容易观察半导体和PCB表面并易于导航。
 

　　智能控制器软件——可对FT160进行依照形状和图案自动查找测量位置的编程，以提高测量吞吐量和准确性。
 

　　精密分析
 

　　样品台定位精度和毛细管X射线光学系统能提供高精度，可测量尺寸小于50µm的部件上的纳米级镀层。
 

　　快速分析
 

　　与传统装置相比，FT160内的新型高强度毛细管光学系统和改良版SDD探测器有助于使仪器的测量吞吐量翻倍。
 

　　多功能性
 

　　大型样品门有助于轻松装载和移除部件，同时大型样品台可容纳各种形状和尺寸的组件。
 

　　耐用性
 

　　坚固耐用的机架经过设计和测试，可在具有挑战性的生产或实验室环境中长时间使用。
 

　　FT160的强大功能使其成为工作繁重的实验室的理想选择。为维持工作流程，这些实验室注重准确性、多功能性和分析效率。
 

　　FT160能够提供：
 

　　|毛细管光学系统和高灵敏度的SDD探测器，以提供出色准确性。
 

　　|测量尺寸小于50µm的部件。
 

　　|快速结果和使用简易性，以支持高吞吐量。
 

　　|用于快速设置样品的大型样品门和样品台。
 

　　|进行测试观察的大型样品观察窗。