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EA8000A 适用于在锂离子电池生产中进行快速有效的质量控制。
EA8000A集X射线透射成像和X射线荧光分析于一体,可快速检测和识别损害锂离子电池(LiB)性能的金属异物。
创新性地协同使用X射线透射成像与先进的X射线荧光光谱,使得EA8000A的扫描速度比其他方法快100倍。例如,仅需30分钟便可在200 x 250mm区域内对尺寸为20µm的金属颗粒进行检测和成分分析。
EA8000A可通过X射线投射图像检测金属异物,随后使用XRF技术自动扫描这些区域。
日立采用的成像技术可确保在整个样品体积内检测出金属异物。先进的XRF毛细管光学机构提供高度聚焦和强X射线光束,可分析电极板及有机薄膜表面下的金属异物。
EA8000A具有多功能性、高速度和自动化特性,可支持大批量生产。其能快速完成扫描,因此非常适合原材料分析、过程控制和故障分析,确保锂离子电池生产的各方面都符合高质量标准。
EA8000A | |
高分辨率硅漂移探测器 | 是 |
毛细管XRF光学机构 | 是 |
元素范围 | Al - U |
操作 | Windows PC |
XY平台 | 电动自动操作 |
样品配置 | 固体、粉末、浆液 |
大样本量 | 250(宽)x200(深)x50(高)mm |
自动数据存储 | 是 |