X荧光镀层测厚仪X-Strata920 是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。
X-Strata920 X荧光镀层测厚仪在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出出色的分析能力,可进行多镀层厚度的测量。
- 以更有效的过程控制来提高生产力
- 有助电镀过程中的生产成本zui小化、产量zui大化
- 快速无损地分析珠宝及其他合金
- 快速分析多达4层镀层
- 经行业认证的技术和可靠性,确保每年都带来收益
- 操作简单,只需要简单的培训
X-Strata920的出色性能
- 快速、精确的分析:大面积正比计数探测器和牛津仪器50瓦微聚焦X射线光管(X射线光束强度大、斑点小,样品激发佳)相结合,提供*灵敏度
- 简单的元素区分:通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱
- 性能优化,可分析的元素范围大:X-Strata920 预置800多种容易选择的应用参数/方法
- 出色的长期稳定性:
- 自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正,确保稳定的测试结果
- 例行进行简单快 速的波谱校 准,可自 动检查仪器性能(例如灵敏性)并进行必要的修正
坚固耐用的设计
电子行业
电子、电气原件
有效控制生产过程,提高生产力
- 确保元件可靠性
- 优化质量控制,确保产品生命期
例如:- 分析导电性镀层金和钯的厚度
- 测量电脑硬盘上的NiP层厚度
五金电镀行业
电镀处理的成本zui小化,产量zui大化
- 快速简单的分析
- 同时进行单层或多层镀层厚度测量及成份分析
- zui多可分析4层镀层
- 镀液成份分析
金属合金行业
金属合金成份分析和牌号认定
珠宝及其他合金的快速无损分析
三种配置选项
固定样品台 - 样品台位置固定
- 经济、实用
- 平面样品台设计,适合高
度不超过1.3"(33mm)的样 品分析
| 加深样品台 - 高度每英寸(25.4mm)可
调,架构式样品舱可容纳 zui大高度6.3"(160mm)的 样品
| 程控样品台 - 用于自动化测量
- 方便根据测试位置放置样品,
并精准定位测量点 - 样品台尺寸:22"(D) x 24"(w),即560mm (深) x 610mm (宽)
- 程控台移动距离:7" x 7",
即178mm x 178mm
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