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Transpector® MPH 残余气体分析仪
Transpector® MPH 残余气体分析仪 INFICON 利用在气体分析过程控制设备领域的专长制造的 RGA 具有行业先的数据采集速度，可检分压强和信噪比低。所有这些特性都不会牺牲 INFICON Transpector 气体分析仪一贯出色的可靠性。 参考价面议 -
Guardian EIES美国英福康高精度,膜厚控制仪
美国英福康高精度,膜厚控制仪 美国英福康美国英福康Guardian EIES 高精度控制器,SQC310膜厚控制仪,薄膜沉积控制器 可将沉积速度控制在 0.1 到 10,000 Å/s 范围内。它可以操作一个或两个传感器，*多 8 个光输入，并控制*多 8 个沉积源，因此能够同时沉积*多 8 种材料。 参考价面议 -
SQM160英福康石英晶体监测仪
英福康石英晶体监测仪 SQM160是利用INFICON石英晶体传感技术在镀膜过程中测量沉积速率和膜厚的精密仪器，标准型有两路传感器输入，同时，4路传感器输入可选，具体视用户实际应用而定；双输出可以向操作者提供直观的模拟沉积速率及膜厚信号。 参考价面议 -
Sygnus，sygnus 2新款膜厚控制仪
新款膜厚控制仪 Cygnus 2 薄膜沉积控制器在 INFICON 薄膜沉积控制器可靠成熟的性能基础上，增添了更多*的功能，可帮助您实现 OLED 过程的*大价值。Cygnus 2 使用我们 ModeLock 频率测量系统，提供稳定、高分辨率的速率和厚度测量，速率分辨率可达每 1/10 秒 0.00433 Å/s，是行业中的翘楚。Cygnus 2 具有其他石英晶体控制器*的性能、品质和功 参考价面议 -
XTC/3美国英福康新型膜厚控制仪
美国英福康新型膜厚控制仪技术先进，经济实惠，可对单层或多层薄膜进行速率控制。立即了解用于单层和多层过程的薄膜沉积控制器的详细信息。XTC/3 带有砖利 ModeLock，提供跳模预防功能，确保获得始终如一的质量。使用 XTC/3 薄膜沉积控制器，您可以高度**地控制沉积速率和厚度，获得几乎适用于所有层的容量，而且控制器安装简便，具有*可靠性，可确保高生产力。 参考价面议 -
SQC310（C）美国英福康高精度膜厚控制仪
美国英福康高精度膜厚控制仪具有先进的电子学,改进的显示器,和非常高的性价比,INFICONSQC310系列为您提供其它生产厂薄膜控制仪所没有的性能与特色.同时可为您的应用选择理想的模式:顺序镀膜（SQC310）或并行镀膜（SQC310C）.用于顺序镀膜,SQC310装备有2个传感器输入,2个 源输出,和8个数字输入/输出,提供为这些数量加倍的扩展插件板选件. 参考价面议 -
IC6,IC-6美国英福康IC6高性能膜厚控制仪
美国英福康IC6高性能膜厚
不变的是超卓的表现
功能丰富的 IC6 提供提供上佳测量精度
IC6 薄膜沉积控制器在 INFICON 薄膜沉积控制器可靠成熟的性能基础上，增添了更多*的功能，可帮助您实现沉积过程的巨大价值。IC6 使用我们的 ModeLock 频率测量系统，提供稳定、高分辨率的速率和厚度测量，速率分辨率可达每 1/10 秒 0.00433 Å/s，是行业中的翘楚。IC6 具有其他 参考价面议