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经销商厂商性质
所在地
MiniPIX SPRINTER Timepix2 光子计数X射线探测器
面议X射线相衬、暗场成像套件
面议极紫外、X射线等产品现货供应
面议三维13.5nmEUV/SXR复制镜
面议激光驱动高亮EUV光源
面议hiXAS桌面X射线吸收精细结构谱仪5-12KeV / 台式XAFS
面议极紫外、软X射线内真空CCD相机-LOTTE-s光谱系列
面议X射线微焦源-成像
面议AdvaPIX QUAD Timepix3 光子计数X射线探测器
面议X射线分辨率测试卡/评估模体
面议WidePIX 2(1)X5 Medipix3 光子计数X射线探测器
面议proXAS桌面近边X射线吸收精细结构谱仪
面议公司介绍
德国HP Spectroscopy公司成立于2012年,致力于为科研及工业领域的客户定制解决方案,是科学仪器的供应商和开发商。产品线包括XAS系统,XUV/VUV/X-ray光谱仪,beamline产品等。主要团队由x射线、光谱、光栅设计、等离子体物理、beamline等领域的专家组成。并与的研究机构的科学家维持紧密合作,关注前沿技术,保持产品的迭代与创新。
产品简介
摄谱仪和单色仪功能
具有效率的光栅
波长范围为1 ~ 200nm
高精度波长设置
紧凑、模块化设计
得益于其无缝设计,maxLIGHT pro可提供同品类光谱仪中的集光量和的效率。经像差校正的平场波长范围可覆盖1nm至200nm的宽光谱带宽,比如,单个光栅可覆盖5-80nm。
其模块化设计能够匹配不同的实验配置。它具有集成的狭缝支架和滤光片插入单元,以及电动光栅定位。
灵活完善的探测器配置选项
nXUV CCD——高分辨高动态范围应用
MCP/CMOS——宽光谱范围、门控或像增强探测需求可根据用户要求进行定制
无缝设计
HPS公司专有的光谱仪设计使用光源直接成像技术。 因此,不需要狭窄的入口狭缝,并且可以地收集入射光。 与传统的光谱仪架构相比,到达探测器的光强会高出20倍。 该结构还极大地提高了日常操作的稳定性。
测量结果
在使用阿秒XUV脉冲的符合光谱应用中,通过maxLIGHT XUV(左图)对HHG进行表征。 高次谐波源自单光子跃迁(蓝色箭头),而XUV和IR光的双光子跃迁则呈现为光电子谱的边带(右图)。 J. Vos et al, Orientation-dependent stereo Wigner time delay and electron localization in a small molecule Science 360 1326-1330 (2018) | |
通过maxLIGHT XUV测量的HHG光谱(右图)和25fs基频光脉冲在kagomé光子晶体光纤中宽化的光谱(左图)。随着泵浦能量的增加,孤子蓝移对HHG的影响清晰可见。 F. Tani et al, Continuously wavelength-tunable high harmonic generation via soliton dynamics Opt. Lett. 42 1768-1771 (2017) | |
在相同的信号强度下,与标准光谱仪(虚线)相比,maxLIGHT pro光谱仪(实线)的分辨率明显更高。要获得等价的光谱分辨率,传统光谱仪技术需要设置窄狭缝,从而显著降低信号强度。 C. Hauri et al, High-Harmonic Radiation for seeding the Swiss Free Electron Laser | |
用maxLIGHT XUV获得的150kHz重频下截止区域内的HHG光谱。CEP的变化显示出在某些CEP设置下强度调制开始消失,表明了独立阿秒脉冲的存在。 M. Krebs et al, Towards isolated attosecond pulses at megahertz repetition rates Nature Photonics 7 555–559 (2013) | |
参考光谱示例证明了maxLIGHT光谱仪的分辨能力。如图所示为飞秒激光脉冲和固体靶相互作用后,经滤光片过滤后的高次谐波谱。谐波产生过程中所固有的精细结构谱可以被maxLIGHT光谱仪清晰地分辨出来。图片上半部分:由 X 射线 CCD 相机记录的原始图像。 图片下半部分:通过列合并获得的谐波谱。 L. Waldecker et al, Focusing of high order harmonics from solid density plasmas Plasma Phys. Control. Fusion 53 124021 (2011) |
技术参数
Topology类型 | 像差校正平场光谱仪和光束分析仪 | ||
波长范围 | 1-200nm | ||
光源距离 | 可根据用户实际光路灵活调整 | ||
探测器类型 | CCD or MCP/CMOS | ||
真空兼容度 | <10-6mbar(UHV超高真空版可定制) | ||
无狭缝技术 | 含 | ||
入射狭缝 | 可调 | ||
光栅定位 | 闭环电控台 | ||
滤光片插入装置 | 含 | ||
控制接口 | USB 或 Ethernet | ||
软件 | Windows UI and Labview/VB/C/C++ SDK | ||
定制化 | 可根据需求定制 | ||
可选项 | 非磁性,旋转几何,偏振测量等 | ||
SXR | XUV | VUV | |
波长范围 | 1-20nm | 5-80nm | 40-200nm |
色散能力 | 0.2-0.4nm/mm | 0.5-1.3nm/mm | 0.9-1.6nm/mm |
分辨率 | <0.015nm at 10nm | <0.028nm at 40nm | <0.05nm at 120nm |
应用
高次谐波发生源
阿秒科学
激光与物质强烈的相互作用
自由电子激光
激光和放电产生的等离子体源
x射线激光
激光驱动二次源