X射线分辨率测试卡/评估模体_X射线光学元件-北京众星联恒科技有限公司手机版

详细介绍

X射线分辨率测试卡是测量成像系统成像质量的重要工具，我司可提供各种类型的测试卡以满足您的各种需求。图案类型包括线对、孔阵列和西门子星等。最小图案尺寸低至20nm，面对高能的高分辨X射线应用，我们可以提供厚达3微米的金吸收体，以满足高能高分辨成像系统的测试需求。

同时我们还可以提供用：

于纳米CT体素校准的模体- Voxel-spirit 可实现快速和直观的体素大小校准，Voxel-spirit 甚至可以满足严格的视场 (FOV) 限制和高精度要求。

遵从ASTM E1695-95的Resolution-spirit 通用模体组，适用于纳米CT和微米CT的空间分辨精密评估。它适用于可变市场限制及高精度的需求。

带有用于 nanoCT 和 microCT 测量的基准标记的样品架-R1-Shadow，可以快速直观地校正旋转台的不准确性和 CT 数据配准，适用于双能量 CT 或 4D CT 等应用。 R1-Shadow 是一种多用途解决方案，适合可变视场 (FOV) 限制和高精度要求。

类型	图案布局	图案规格	吸收体类型及厚度
纳米分辨率测卡XRESRO-20		①Radial Pattern ③④Hole Pattern ⑤⑥⑦⑧L&S Pattern 100nm hole 50nm L&S 20nm Radial patterns	Ta 1µm
纳米分辨率测卡XRESRO-50HC		100nm hole 50nm L&S 50nm Radial patterns	Ta 500nm
纳米分辨率测卡XRESRO-100		100nm L&S 200nm L&S 400nm L&S 600nm L&S 800nm L&S 100nm Radial patterns	Ta 100nm
3D西门子星分辨测试卡		最小细节小于200nm	结构高度200µm 尺寸Fhi 100µm
显微CT分辨测试卡		布局由嵌套的L形组成，线宽为: 50 –40 –30 –20 –15 –10 –9 –8 –7 -6 -5 –4 –3 -2 –1.5 -1 –0.9 -0.8 -0.7 –0.6 -0.5 –0.4 –0.35 –0.3 –0.25 –0.2 （微米）	约1.5µm米厚金
Yxlon标准分辨率测试卡		5.0, 4.0, 3.2, 2.5, 2.0, 1.6, 1.3, 1.0, 0.9, 0.8, 0.7, 0.6, 0.5, 0.45, 0.4, 0.35, 0.3 µm线对	3 µm高金
NanoXSpot分辨率测试卡		4象限区域，每个区域4 mm x 4 mm，含两个改良的西门子星，孔阵列（最小孔径5微米），7组有不同方向的线对（12 µm, 10 µm, 8 µm, 6 µm, 5 µm, 4 µm, and 3 µm）	8 µm高金
微纳CT分辨率测试模体 Spirit resolution		球直径: 0.5, 1.0, 2.5, 5.0mm < 1 μm to > 10 μm 体素尺寸CT应用遵从 ASTM E1695-95 标准	红宝石
纳米CT体素校准模体 Voxel-Spirit		球直径: 0.3 mm 球距离: 0.45 mm (认证精度: 0.06 μm) <1 μm 体素CT应用	红宝石
微纳CT转台摆动校正样品架		基准尺寸 [µm]: 25 25 50 100 适用于 Dual-Energy CT or 4D CT	红宝石