X/β射线激光测厚一体机测量原理与应用特点

测量传感器：X/β射线测量传感器&激光位移传感器

射线激光测厚一体机是X/β射线测厚仪和激光测厚仪合二为一的结合体，将X或β射线测量传感器和激光位移传感器集成安装在同一套扫描架上，综合了射线和激光的测量原理，并利用激光测厚光斑小的特点，采用一套专用的测量系统软件，可以同时实现材料的面密度和厚度在线测量与控制。上位机根据双探头的测量数据可以同时给出面密度和厚度的数据，并分别绘制出材料的面密度和厚度控制曲线。

扫描架：由于激光测量对上下探头同轴对齐精度要求较高，采用C型扫描架，一般采用线膨胀系数较小的大理石

或铸铁C型架。

应用领域：

对于材料体积密度一致性不好且希望面密度和厚度同时控制，或者需要测量精细轮廓尺寸的应用场合，射线激光测厚一体机有其不可替代的技术优势。

如锂电池涂布一致性测量，既需要测量和控制涂布涂层面密度一致性，同时又需要测量和控制涂布边缘厚度的一致性。包括涂布面密度测量，涂布边缘或头尾削薄区削薄高度和削薄长度测量。

另外，还可用于电脑手机等数码产品的石墨散热膜挤出的面密度和厚度一致性测量。