EAU-2200是专门为试验仪器开发的全数字32bit双CPU闭环测控系统。该系统专为实时性测量和数据处理而设计。双32bit CPU高速运行，可以快速响应计算机指令、高速传输测量数据、实时高频闭环控制调节、及时状态及故障信息检测。

测控系统的设计适合应力腐蚀试验设备的使用要求。主控板为多层PCB，专门的地线层进行大面积铜皮敷设，以菊花状分割共地，抑制干扰和信号漂移。PCB板大量采用SMT器件，贴片机自动贴装，并经过了冷热循环测试及48小时不间断通电测试，以及后期产品调试、试验时的长期考核。

测控系统设计了应力腐蚀试验时传感器的扩展连接通道，力传感器1路、位移通道1路、光栅位移传感器2路（或者LVDT位移传感器2路），可满足应力腐蚀仪器、应力腐蚀试验机的测控需求，实现应力腐蚀试验设备进行介质环境下的慢应变速率拉伸试验（SSRT）、恒载荷应力腐蚀开裂（SCC）试验、腐蚀疲劳（CF）试验、蠕变（Creep）试验、蠕变疲劳（Creep Fatigue）试验、应变疲劳（Strain Fatigue）试验、持久强度（Creep Rupture Strength）试验、氢致延迟开裂（HIC）试验等，能对SCC裂纹扩展测量、腐蚀疲劳裂纹扩展测量等多种试验提供测控应用。

基于全数字化设计理念，测控系统的工作参数通过计算机上安装的调试软件进行设置、备份、管理。这种设计利于产品的维护和安装服务，在产品调试检验完成后，将所有参数存储于计算机进行资料归档管理，如果以后更换一台测控系统，只需连接计算机将归档的参数全部写入新的测控系统，便会和原来一样的状态正常工作。

对于慢应变速率拉伸测试，结合伺服系统的数字指令接口，测控系统设计了的数字指令输出功能，以指令脉冲方式均匀平稳的发送给伺服系统。数字指令的输出建立在精确的定时基础上，精度的晶体时基芯片提供了准确的定时，这会有效消除在极低速拉伸时非连续平稳问题，保证了慢应变速率拉伸时速度的准确性。

测控系统通过网口（RJ45）与计算机通信连接，网口提供了高速通信，满足了大数据量的传输和计算机指令的迅速响应。

EAU-2200性能特点：

   ● 双32bit CPU，多通道全数字闭环控制；

   ● 图形化PID闭环调节，实现负荷、位移、伸长闭环控制；

   ● Speed、Position双闭环控制，带前馈控制功能；

   ● 多种移动控制方式，任意设置控制通道、移动速率、目标通道、目标位置；

   ● 模拟、数字双接口控制输出，适应大部分外设控制系统；

   ● 高分辨率采集通道，恒定采集速率，全程分辨率不变且在Z高分辨率工作；

   ● 正交编码信号倍频防抖技术，提升位移、光栅传感器的分辨率和精度，同时防干扰；

   ● 32bit高速计数器，位移、伸长测量范围大，数据安全、无溢出；

   ● 主动工作状态监测，实时传输运行过程中的状态、限制信号及错误；

   ● 加载试台位置记忆功能，保证软限位工作的可靠性；

   ● 传感器线性修正功能，提升传感器测量线性度及测量准确度，扩展测量范围；

   ● 记忆式传感器插头，支持数据备份，方便多传感器扩展，方便售后维护；

   ● 传感器插头连接检测技术，意外断开后设备自动保护停止加载；

   ● 位置限位（机械限位）、软限位（软件设定）、急停按钮等安全保护；

   ● 网口（RJ45）通信，满足高速数据传输。