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产品名称: 温度冲击试验箱/冷热冲击试验箱/高低温冲击试验箱
产品型号: PJG
产品简介: 用于电子元器件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等,同时通过此装备试验,可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。
高温室 | 预热温度范围 | +60~200℃ |
升温速率※1 | +60~+200℃≤20分钟 | |
低温室 | 预冷温度范围 | -78~0℃ |
降温速率※1 | +20~-75℃≤70分钟 |