EDX-GPEDX-GP 能量色散型X射线荧光分析装置 日本岛津
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惠州市华高仪器设备有限公司
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EDX-GP 能量色散型X射线荧光分析装置 日本岛津
产品信息：
*次使用，也能轻松操作，操作简便且以更高的精度进行微量分析，达到zui高灵敏度与*分辨率的*结合。
标准配置RoHS/ELV/无卤素分析所需的所有必要功能，用户无需购买特殊选购件，使可以获得*RoHS/ELV/无卤素分析系统 。
SET 1
操作简便，一个指令即可开始全自动测定。
测定条件的选择过去一直依赖操作者的判断，现在改由装置自动判断，即使初学者也可简便·高精度地测定。
SET 2
放置样品
●
将样品放在分析位置，利用样品图像观察装置确认分析位置。
选择分析区域。
关闭样品室。
选择分析条件／输入样品名称
一个画面中可以同时显示样品图像、选择分析条件、输入样品名称。
点击开始。
SET 3
显示分析结果
测定结束后，画面上将清楚显示5种元素的［合格判定］、［含量］、［3σ（测定偏差）］。
点击即可显示［结果列表］或［创建报告书］。
只需1次点击，便可根据预先登录的分析条件，
自动执行从测定到结果的一系列操作。
■ 校准曲线自动选择功能
不含有害元素时，测定过程中能够判定结果时，即自动终止测定，缩短分析时间。
■ 省时功能
不含有害元素时
■ 适用省时功能的缩短时间示例
含量低于检出下限值时，判断不含有，测定自动结束。上述样品中Pb、Cd的含量均低于检出下限，与设定的200秒（=100秒＋100秒）分析时间相比，仅用了50秒（=25秒＋25秒）即结束分析，大幅度节约了时间。
有害元素含量高时
由设定的目标管理精度自动决定测定时间。
在测定精度达到管理值时结束测定。
测定高浓度元素时，在比设定的测定时间更短的时间内即可获得高强度，而且误差变小，由此可以大幅缩短时间。上述样品中Pb：7600ppm、Cd：52ppm,设定的分析时间为200秒（=100秒＋100秒），实际仅用了40秒（=15秒＋25秒）即结束分析，大幅度节约了时间。
本装置配置了RoHS/ELV检测中*zui高的EDX－720型的半导体检测器、滤光片及高计数率电路。
为什么需要高灵敏度？
能够测定更微量的元素。 测定时间更短，因此相同时间内测定数量更多。
■卤素系列阻燃剂中微量Cd
〔keV〕
为什么需要高分辨率？
可以减轻目标元素附近的其他共存元素的重叠影响。
■ 卤素系列阻燃剂中微量Pb
为什么需要高精度？
在IEC提出的合格判定中，分析装置的重现性对判定结果有很大的影响，重现性越好（即测定精度越高），合格判定的准确度就越高。
利用滤光片提高灵敏度／还可以进行高灵敏度的无卤素分析
标准配备了5种滤光片，可降低、除去形成背景成分的X射线管的散射线，提高检测灵敏度。 本装置在RoHS/ELV/无卤素分析中会自动选择3种zui合适的滤光片，进行高灵敏度测定。
受X射线管Rh的特征X射线影响的Cl也可以测定
微量成分：Cl（除去特征X射线）
利用滤光片提高检测灵敏度
微量成分：Pb（背景降低）
滤光片条件灵活，满足客户要求
如果您希望在短时间内对多个样品进行测定，*使用单个滤光片进行高速分析。
<由单个滤光片进行高速分析> 测定时间：100秒
如果您希望对微量元素进行高灵敏测定，可以选择各种滤光片进行高灵敏度分析。
与单个滤光片高速分析相比，灵敏度约提高2～3倍。
<由滤光片进行高灵敏度分析>
测定时间：300秒（100秒×3通道）
EDX-GP标准配备了RoHS/ELV/无卤素分析所需的所有必要功能，用户无需购买特殊选购件，就可以获得*RoHS/ELV/无卤素分析系统。
标准配置改变照射直径的准直器＆样品图像观察组件
测定异物或者测定包含多个部位的样品时，通过样品图像观察组件在观察样品的同时，可以简单的设定分析位置。测定小样品或样品中特定位置时，可以使用准直器，更改X射线照射区域。
（1, 3, 5, 10 ｍｍφ）
10mmφ图像（塑胶）
3mmφ（金属）
形状校正功能
即使含量相同的样品，在形状和厚度不同时，X射线强度将发生变化，得到的定量值也会受到影响，EDX-GP通过使用BG内标法*，可以排除形状和厚度的影响，取得高精度结果。
※
BG内标法
通过散射X射线强度使各元素的X射线荧光强度标准化的一种校正方法。
测定结果列表管理
创建列表功能
已保存数据可以用Excel形式列表显示。
超大样品室可以对应各种样品形态及大小。
采用超大样品室
zui大可以放置370mm长×320mm宽×155mm高的大型样品，令紧凑型机身*。
联系方式
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