FIB聚焦离子束系统

FIB聚焦离子束系统

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-08-09 14:41:31
48
产品属性
关闭
北京依维特技术服务有限公司

北京依维特技术服务有限公司

免费会员
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

设备介绍蔡司双束电镜Crossbeam系列,是专为高通量3D分析和样品加工制备量身打造的FIB-SEM双束电镜

详细介绍

设备介绍

蔡司双束电镜Crossbeam系列,是专为高通量3D分析和样品加工制备量身打造的FIB-SEM双束电镜。Crossbeam系列将场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)镜筒强大的成像和分析性能与全新一代聚焦离子束(FIB)出色的加工能力相结合。

仪器型号

卡尔蔡司Crossbeam350

技术参数

  • 电子束流5pA100nA
  • 分辨率3nm@30KV
  • 检测器lens Se、 Inlens esB、可变气压二次电子探测器VPSE、二次电子二次离子探测器SESI、扫描透射电子探测器STEM、背散射探测器BSD
  • 能谱牛津ULTIM MAX

案例展示

应用范围

1,生命科学,如断层扫描,三维重构
2,电池领域,如原子层组分表征
3,半导体领域,如失效分析,电路修复
4,金属领域,如界面分析,亚表面分析
5,材料科学,如晶体微观结构分析,纳米图形化加工
6,透射电镜、EBSD、微观力学等多种样品的原位制备
7,微纳加工。

上一篇:法兰式液位计在现场的腐蚀性应用 下一篇:CA6471提供了接地电阻和土壤电阻测试方法
提示

请选择您要拨打的电话: