结构原理

PL620型智能激光粒度分析系统，是根据颗粒对光的散射原理，从散射光能的分布中反演出被测颗粒的粒度分布。颗粒在激光束的照射下，其散射光的角度与颗粒的大小成反比关系，大颗粒的散射角较小，小颗粒的散射角较大。

该仪器采用全量程的米氏散射理论、智能搜索算法及简洁稳定系统结构。具有测量的重复性好、动态范围宽、测量速度快、操作简单方便及稳定可靠、易维护等优点，是一种适用面较广的粒度分析仪；可以用来测量各种固体粉末、乳液颗粒的粒度分布。

适用领域

该仪器广泛适用于磨料、打印耗材、建材、电池、非金属矿、粉末冶金、精细化工、生物医药、石油能源、涂料、颜料、陶瓷、农药、食品等领域的各种颗粒粒度大小的测量。

性能指标

1. 测试范围：0.05～1500μm

2. 重复性误差：<1% （D50偏差）

3. 进样方式：湿法

4. 采集频率：3000次/秒

5. 测试时间：1～2分钟

6. 探测单元数：56个

7. 激光器：进口半导体激光器（红外光）

8. 工作环境： 5～35℃（温度），＜85%（相对湿度）

9. 输出数据： 粒度分布表、粒度分布图、平均粒径、中位径、比表面积等

10. 外观尺寸：（L×W×H）：695×265×296mm（主机）

11. 超声波功率： 120W

功能特征

● 简洁可靠的光路及结构

1. 全量程的米氏散射理论、智能搜索算法及简洁稳定系统结构，

大幅度提高了样品测量的重复性及大小颗粒测量的准确性。

2. 透镜后傅立叶变换结构，使接收角不受傅立叶镜头口径限制。

3. 进口半导体激光发射器，低电压供电，具有更快、更好的稳定性及可靠性

（预热5分钟后即可进行测量，远远优于氦-氖激光器30分钟以上的预热时间）。

4. 精密超低偏置电流的数据处理电路，能够处理极其微弱信号，扫描频率达到3000次/秒。

5. 的一体化激光器及后置对中调节锁紧机构，可实现免维护及防止运输或挪动过程中零环移位造 成的测试偏差。

6. 窗口材质采用超硬光学玻璃及不锈钢，耐磨、易清洗，维护方便。

7. 全量程测量，勿需更换镜头，使用更方便。

8. 水平直线光路布置，光路结构稳定可靠。

9. 底座采用硬铝制作，结构轻便稳定性好；

10. 外壳采取了防震、防尘、防潮、防辐射设计，便于运输和在恶劣环境下工作。

11. 结构紧凑，占用空间小，能够节约宝贵的实验室空间。

12. 湿法进样系统采用离心增压泵，低电压供电，更安全并可连续线性调速。

● 强大易用的软件系统

1. 具有手动及SOP标准操作流程功能，可以大大减少人为因素的影响，使测试流程标准化。

2. 多种分析模式：单峰模式、通用模式、增强模式、多重窄峰。

3. 支持结果模拟，能将当前分析结果模拟成其它原理仪器的测量结果（如库尔特、图像仪等）。

4. 支持报告设计及自定义计算，用户可根据需要自定义报告模板，并可使用编程语言进行计算，完成各种特殊要求。

5. 超过百种的样品折射率；并提供光学参数优化功能，对样品折射率进行优化调整。

6. 采用类似“文件资源管理器”的文件浏览方式，报告文件打开、查找更加简便快捷。

7. 多种报告窗口：记录、分析结果、百分报告、筛分报告、拟合报告、统计报告、趋势报告、平均报告等；

并可对记录进行排序，使用多种方式调整报告窗口大小（整页、页宽、99%等）。

8. 可任意输入样品折射率（包括实部和虚部），系统自动完成参数计算，无需用户额外操作。

9. 支持报告数据导出到doc、xls、pdf、jpg、bmp、html等多种文件格式。

10. 支持多种界面外观设置。