用你常用的仪器进行AFM测量

在越来越多的情境下，研究人员希望结合光学和原子力显微镜技术。光学显微镜的易用性，筛选能力和（无）样品制备要求几乎是的。然而，有时目标放大100倍的是不够的，您想更仔细地观察一些超出仪器分辨率的微小特征。在常规实验室环境中，您需要两个专用仪器，并且有必要将样品从一个设备转移到另一个设备。 使用LensAFM则不必如此。凭借其极小的设计和巧妙的安装机制，您需要做的就是旋转光学显微镜或轮廓仪上的转盘并运行扫描。

LensAFM将地集成到您的工作流程中：将其安装在光学显微镜的转盘上 - 就像常规物镜一样 - 您可以使用正常物镜选样品以找到感兴趣的区域。随后，使用集成的8倍光学镜头可以再次定位该区域，然后您可以执行AFM测量以获得更高分辨率的3D信息：以您惯有的方式工作，分辨率和功能却得到极大提升。

LensAFM具有快速卸载机制，可轻松地将LensAFM安装到转台和从转台卸下。可调安装保证您可以以高于10μm的精度更换它。芯片安装座上的对准凹槽还可确保下一个微悬臂的位于相同位置的4μm范围内，即使在微悬臂更换后也能再次回到相同的特征值。由于这些对准凹槽，您甚至不需要在微悬臂上执行激光对准，从而节省了额外的时间。

LensAFM 为您的光学显微镜带来了所有这些测量功能，无需重新思考一整个新的工作流程。观看视频，了解提升您的显微能力是多么容易。

提升光学显微镜的能力

由于光学显微镜的分辨率受光的波长限制，因此光学系统在可实现的分辨率上有一个极限。在越来越多的应用中，就需要光学和原子力显微镜的组合。此外，AFM可以无障碍表征透明样品或其他难以光学评估的样品。且不仅仅是样品的形貌：AFM还允许获得其他材料特性的知识，例如，表面粗糙度，硬度变化，磁性或电导/电阻。

LensAFM 成像模式

以下描述为仪器所具备的模式。某些模式可能需要其他组件或软件选项。详情请浏览产品手册或直接联系我们

标准成像模式

静态力模式

动态力模式(轻敲模式)

相位成像模式

电性能

导电探针 AFM (C-AFM)

压电力显微 (PFM)

静电力显微 (EFM)

开尔文探针力显微(KPFM)

扫描扩散电阻显微 (SSRM)

磁性能

磁力显微

机械性能

力调制

力谱

力映射

其他测量模式

刻蚀和纳米操纵

LensAFM 应用示例

LensAFM /光学平台组合提供了一个互补的成像系统，极大地扩展了这些仪器单独的分辨率和测量能力，如下面的三张图所示

相同区域由LensAFM的内置8倍物镜观察到的光学视图。 AFM微悬臂在光学图像中可见，允许在测量之前容易地定位样品。

由LensAFM记录的同样缺陷的AFM形貌。该区域的三维数据清楚地识别出该缺陷为涂层上的一个洞，部分被碎屑填充。