品牌
其他厂商性质
上海市所在地
Phasor XSPhasor XS 相控阵超声波探伤仪
面议
HS612eHS612e 支柱绝缘子超声探伤仪
面议
PrismaPrisma 相控阵超声波探伤仪
面议
AS30AS30 经济型超声波探伤仪
面议
TOFDTOFD 超声波探伤仪
面议
EPOCH1000iEPOCH1000i 经济型相控阵探伤仪
面议
AS20AS20 经济型超声探伤仪
面议
UT2100UT2100超声波探伤仪
面议
PG70ABDLPG70ABDL 精密超声波测厚仪
面议
38DL Plus38DL Plus 多功能超声测厚仪
面议
45MG45MG 超声波测厚仪
面议
FMP30FMP30 涂层测厚仪
面议FLIR SC7000 红外热像仪
长波红外热像仪的光谱带
分辨率为 320 x 256 和 640 x 512 的 MCT 和 InSb 探测器
特写镜头的成像精度可达到 7 μm
4 位和 8 位 的电动过滤器
| 型号 | FLIR SC7300L | FLIR SC7750L | FLIR SC7900VL |
探测器 | |||
| 探测器类型 | 碲镉汞（MCT） | ||
| 光谱范围 | 7.7 - 9.3 μm | 7.85 - 9.5 μm | 7.7 - 11.5 μm |
| 分辨率 | 320 x 256 | 640 x 512 | 320 x 256 |
| 探测器像元间距 | 30 μm | 16 μm | 30 μm |
| NETD | <25 mK （一般20 mK） | 一般 <35 mK | <25 mK （一般20 mK） |
| 势阱容量 | 37/12 M 电子 | 10 M 电子 | 37/12 M 电子 |
| 可操作性 | >99.5% | ||
| 传感器的冷却 | 内部Sterling | ||
电子业 / 成像技术 | |||
| 读出 | 快照模式（4 通道） | ||
| 读出模式 | 异步集成然后读取 | 异步集成并读取；异步集成然后读取 | |
FLIR SC7000 红外热像仪
| 型号 | FLIR SC7650E | FLIR SC7650 |
探测器 | ||
| 探测器类型 | 锑化铟 (InSb) | |
| 波长范围 | 3.0 - 5.0 μm or 1.5 - 5.1 μm | |
| 分辨率 | 640 x 512 | |
| 探测器像元间距 | 15 μm | |
| NETD | <25 mK （一般20 mK） | |
| 势阱容量 | 6.5 M 电子 | |
| 可操作性 | >99.8% （一般>99.95%） | |
| 传感器的冷却 | 内部Sterling | |
电子业 / 成像技术 | ||
| 读出 | 快照模式（4 通道） | |
| 读出模式 | 异步集成并读取；异步集成然后读取 | |
