磁悬浮天平技术允许在高压和高温条件下通过使用电阻测量单元进行高分辨率的质量测定一个工业用的微量天平位于测量单元外。由于非接触式磁悬浮耦合，可以确定压力测量单元内的质量变化。

测量时，永磁体将含样品的样品堆塌提起，然后通过高性能PID控制器检测和控制提起实际位置。为了建立永磁体和测量样品的自由悬浮位置，电压被施加到测量池外部的电磁体上。从而在无接触的条件下测量样品质量。负载去耦然后允许减去被测量的物体重量以用于去皮重或校准相应的测量信号。当这种去耦发生时，只有永磁体保持在悬浮位置 (零点位置)。

零点位置的去皮可确保长期稳定和漂移补偿测量。选定测量点后，测量对象被提起，可通过微平衡检测到相应的重量。测量对象可以是堆塌，内置样品材料《测量吸附等温线/研究材料特性/分析催化等)。测量对象也可以是具有标准体积的沉降片。在这种情况下，磁悬浮天平可用于对沉降片周围流体进行高精度密度测量。RuboSORP磁悬浮天平是无二的，因为它可以同时以的精度和效率测量两个样品的质量。