硅球间隔物_间隔物微球-苏州纳微科技股份有限公司手机版

UniSil®硅球间隔物，具有非常窄的粒径分布，能够控制盒厚，不会对基板造成损坏，清晰度更高。纳微科技的硅球品种很多，应用广泛。

产品特点

微球粒径非常均一，变异系数CV小于3.5%
微球单分散性好，无重叠或团聚
微球纯度高，无污染
微球机械强度高
微球具有优异的耐热性、耐寒性以及耐化学品性

UniSil®硅球间隔物的扫描电镜图

UniSil®硅球间隔物粒径非常均一

UniSil®硅球的颗粒大小和分布是用*的测试仪器（Beckman Coulter Counter Multisizer）和方法来确定的。为了确保结果的准确性，每次测量之前都用NIST可溯源标准颗粒来校正。UniSil硅球粒径分布图说明纳微生产的UniSil硅球无论大小都具有高度的均匀性。变异系数，Coefficient Value (CV)%=(standard deviation/average diameter)x100，控制在2.5% 以下。

UniSil®硅球间隔物粒径分布图（微球的粒径是用NIST溯源的标准颗粒校正的Beckman Coulter Counter Multisizer 3精确测试）

UniSil®硅球纯度高，无污染

UniSil®硅球离子含量会直接影响到液晶的质量，因此我们在制备和清洗过程中都采用去离子水，产品定期抽样检查。

Substance	Control Limit	Test Method
Fe	≤ 2 ppm	ICP Spectrometer
Ca	≤ 2 ppm
K	≤ 2 ppm
Na	≤ 2 ppm
Cl	≤ 1 ppm	Ion Chromatography

UniSil®硅球间隔物符合RoHS指令

UniSil®硅球间隔物在生产过程中不使用欧盟RoHS指令中所禁止的元素，不含RoHS 所禁止的有机物质及重金属，纳微每年更新一次RoHS检测报告。有需求的客户可以索要RoHS检测结果复印件。

Substance	Test Result (N.D. = Not Detectable)
Cd	N.D.
Pb	N.D.
Hg	N.D.
Cr6+	N.D.
PBBs	N.D.
PBDEs	N.D.

UniSil®硅球间隔物产品目录

纳微科技提供两个系列UniSil硅球产品：Si和SiS。库存产品的粒径尺寸从1.5 µm到25 µm， 3 µm到9 µm每隔0.1 µm一个标尺。其中Si系列主要用于边框合厚的控制，SiS主要用于特殊要求的合内的合厚控制。

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UniSil®硅球物理特性

检测项目	测试结果	测试方法
平均粒径, µm	± 0.05	库尔特粒度分析计数仪 Coulter Counter
粒径分布CV值	1.0% -2.5%	库尔特粒度分析计数仪 Coulter Counter
10% K值 10% Modulus of Elasticity, kgf/mm2	> 4500	Shimadzu MCT210
比重，g/cm3	2.1	Multi-Volume Density test
热分解温度 Thermal Decomposition Temp, °C in air	不分解	-
折射率 Refractive Index	1.46	20 ºC, λ=589 nm

Series	Product	CV	Diameter	Increment	Application
Si	NM Si	≤ 2.5%	1.5 – 25.0 µm	0.10 µm	Side Spacer
SiS	NM SiS	≤ 2.0%	1.5 – 25.0 µm	0.10 µm	TN, STN

客户可以根据需求选择合适的UniSil硅球产品。

纳微科技拥有*的技术，完善的生产和检测仪器设备，可以严格控制产品的质量。

通用准则：

NM Si XXX；NM SiS XXX

NM - NanoMicro（纳微）缩写

Si - 二氧化硅微球中适用于边框的产品；SiS - 二氧化硅微球中适用于盒内的产品

XXX - 粒径标称如：065 – 6.5 µm, 100 - 10.0 µm

备注：

1. 粒径每间隔0.1 µm 为一个产品规格,也可以根据客户需求特殊定制；

2. 可根据客户需求提供小于1.5 µm及25.0 µm以上大小的特殊品种；

3. 测试方法: Beckman Coulter counter Multisizer 3；

4. 变异系数计算方法：变异系数 (C.V.)%=(标准偏差/平均粒径)×*。

产品简介

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