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德国 Metrolux 波长传感器
主要特点:
该波长传感器用于精确测量波长范围在400nm-1800nm脉冲和连续激光器的波长。根据“扫描”原理,麦克尔迅干涉计, the unknown laser beam is permanently compared with
the integrated He-Ne reference laser. 因为该激光波长计的测量频率可达8.3Hz,因此它可实时对激光波长进行评价和展示,可在LED上显示和输出激光波长,波数或者频率的测量结果。集成IEC界面可通过电脑显示测量结果
波长测量范围 | 400-1100nm(ML 6010) 400-1800nm(ML 6020) |
精度 | typ. 5*10-7 |
相对精度 | 10-6–10-7 |
激光带宽 | < 8 GHz |
测量频率 | 8.3Hz |
小输出功率 | 100微瓦 |
大输出功率 | 1.5毫瓦 |
参考波长 | 6328nm |
和频光谱测量系统,四波混频光谱测量系统,皮秒时间分辨光谱测量系统,纳秒激光光谱测量系统;激光差分雷达;粒子成像测速系统(PIV);平激光诱导荧光PLIF分析系统,激光诱导白炽光LII分析系统;激光喷雾诊断系统;激光多参量联合测量系统;激光相位多普勒干涉仪PDI(PDPA, PDA), 激光多普勒测速仪(LDV);光学(激光)应力和形变分析系统;太赫兹时域光谱测量系统,太赫兹发射器和接受器组件;椭偏仪,布儒斯特角显微成像分析仪,表面等离子体共振成像分析仪,波导模分析仪,接触角测量仪,液滴气泡分析仪;高/中/低功率半导体泵浦和闪光灯泵浦的调Q/锁模飞秒/皮秒/纳秒固体激光器; *,二氧化碳激光器,通讯用激光器; 超快、超高帧频(增强型)CCD相机,增强型及特种CCD相机;各种光学材料和镜片,特种衍射光学元件;非线性晶体,红外晶体,激光晶体;各种电控和手动精密位移台,纳米位移台;激光能量计,功率计,激光光束品质分析仪;激光器电源及附件。