显微粒子成像测速系统(Micro PIV)设计用来测量微米级空间分辨率下示踪颗粒速度场。它利用粒子成像测速原理，将常规 PIV 应用拓展到微尺度范围。
        系统采用双脉冲Nd:YAG激光作为光源，通过大数值孔径光圈荧光显微镜聚焦到微流动模型上。微流动采用荧光颗粒作为示踪物，通过显微镜采集到的颗粒散射光的波长比入射光波长要长。由于波长不同，这个光波信号通过一个滤波透镜与入射光分离开，并由显微粒子成像测速系统(Micro PIV)相机拍摄下来。双曝光产生的颗粒图像，经过高级精密的PIV算法处理后获得微尺度流场的速度场结果。
系统主要参数指标：
1. 速度场测试范围：100微米至宏观尺度
2. 典型应用所需显微物镜放大倍率：5X至40X
3. 显微物镜类型：平场长工作距离荧光物镜。
4. 标配CCD相机灵敏度：65 % @ 500 nm
5. 标配CCD相机分辨率：1376 x1040 像素
6. 典型情况下的测量速度上限：采用5X显微物镜，双帧时间间隔为500纳秒，则测量速度上限约为20米/秒。
7. 显微镜主体可选正置和倒置两种型号。
8. 速度场分析精度：可达0.1像素。