美国TSI 扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS-3938)

美国TSI 扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS-3938)

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具体成交价以合同协议为准
2019-09-10 14:50:58
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美国TSI集团中国公司

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产品简介

美国TSI 扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS-3938)广泛用于测量空气中的颗粒尺寸分布的标准。这一系统也经常用来使悬浮在液体中的颗粒的颗粒尺寸的测量精度。美国国家标准与技术研究所( NIST )使用一个 TSI DMA 尺寸为 60 nm 和 100 nm 的标准尺寸的参考材料。

详细介绍

 

美国TSI 扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS-3938)特点和优点   

高分辨率数据:多达 167  个通道 

广泛的尺寸范围:从 2.5 nm  到 1000 nm   

 ISO 15900:2009  兼容 

快速测量:< 10  秒扫描 

宽的浓度范围内, 107  particles/cm3 

大的灵活性组件的设计 

无需电脑的操作, 触摸屏控制 

易于安装与不安装工具和自动发现部件 

离散粒子测量:适用于多模样本 

独立的颗粒和流体的光学性质 

宽范围的系统的选择:水或丁醇计数器供选择;传统的或非放射性中和器的选择 

美国TSI 扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS-3938)应用   

纳米技术研究和材料的合成 

大气研究和环境监测 

燃烧和发动机排气的研究 

室内空气质量的测量 

核 /  冷凝的研究 

吸入毒理学研究 

内容包括   

静电分类器与您选择的 DMA  柱 

可兼容六种 CPC   

气溶胶仪器 ®  软件经理 

 

数据采集计算机必须单独购买。

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